第四届检测技术与智能系统国际学术会议(DTIS 2024)将于2024年12月13-15日在中国长沙举行。DTIS 2024会议旨在为从事检测技术与智能系统领域的专家学者、工程技术人员、技术研发人员提供一个共享科研成果和前沿技术,了解学术发展趋势,拓宽研究思路,加强学术研究和探讨,促进学术成果产业化合作的平台。
往届均已EI检索-已确定ISSN号
第四届检测技术与智能系统国际学术会议(DTIS 2024)
The 4th International Conference on Detection Technology and Intelligence System
重要信息
会议官网:www.icdtis.org 【点击参会/投稿/了解会议详情】
大会时间:2024年12月13-15日
大会地点:中国-长沙
截稿时间:以官网信息为准
收录检索:EI, Scopus
组织单位
大会组委
主讲嘉宾
*更多嘉宾个人信息可在官网查看.....
征稿主题
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论文出版
1.EI论文
EI会议论文集
所有的投稿都必须经过2-3位组委会专家严格审稿,最终所有录用的论文将由Journal of Physics: Conference Series (JPCS) (ISSN:1742-6596)出版,见刊后由出版社提交至 EI Compendex, Scopus 检索,目前该出版社EI检索稳定。
投稿须知(具体可到官网了解)
◆论文不得少于4页
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◆会议仅接受全英稿件。如需翻译服务,可前往【会议官网】了解详情或咨询会议负责老师
◆论文是英文稿件,且论文应具有学术或实用价值,未在国内外学术期刊或会议发表过。发表论文的作者需提交全文进行同行评审,只做报告不发表论文的作者只需提交摘要。
◆由文章重复率引起的被拒搞将由作者自行承担责任。涉嫌抄袭的论文将不被出版,且公布在会议主页。
会议议程
参会方式(注:会议有主讲报告、口头报告及海报展示环节)
1、作者参会:一篇录用文章允许一名作者免费参会;
2、主讲嘉宾:申请主题演讲,由组委会审核;
3、口头演讲:申请口头报告,时间为15分钟;
4、海报展示:申请海报展示,A1尺寸,彩色打印;
5、听众参会:只参会听讲,也可申请参与演讲及展示。