电磁兼容（EMC）：静电放电(ESD）抗扰度试验深度解读（六）

最新推荐文章于 2024-09-29 20:30:42 发布
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分类专栏： 电磁兼容设计 文章标签： 单片机 嵌入式硬件 硬件工程 物联网 驱动开发
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本文详细探讨了静电放电对电子产品的影响，通过四个案例揭示了不同类型的干扰（传导和辐射）及其可能导致的设备故障。文章强调了选择抗静电元件、设计防护措施以及静电放电发生器对测试结果的影响。

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目录

1. 静电测试干扰方式

2. 案例一

3. 案例二

4. 案例三

5. 案例四

6. 总结

静电放电测试的复杂性决定了这项测试对产品的主要影响方式也是多样的。标准里介绍了几种常见的影响方式：

1. 静电测试干扰方式

在静电放电试验中，测试了受试设备对于宽范围的电子骚扰的响应。范围包括：电介质击穿电压，远离注入点间隙的二次击穿，RI跌落的电流，Ldi/dt跌落的磁场，感应电压产生的磁场和感应电压产生的电场（场即可以是远场也可以是近场）。在这方面，静电放电试验不同于EMI测试，它把多重试验变成一个试验。

以下是由于受到静电放电试验的不同骚扰导致受试设备失效的几个案例：

2. 案例一

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电磁兼容（EMC）：静电放电(ESD）抗扰度试验深度解读（五）
linkking27的博客
04-22 2217
静电放电过程是一个复杂的过程，静电发生器只能特定的模拟实现中的某些场景，并不能完全等效并覆盖所有的场景。因此静电测试通过并不代表着能产品没有静电问题，在所有的场景中适用。静电放电有静电场的近场干扰和辐射场的远场干扰，0.6~1ns的上升时间，存在丰富的高频分量干扰。
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05-07 978
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静电放电（ESD）问题需要从设计、布局、滤波、屏蔽和接地等多个方面进行综合考虑和整改。通过合理的设计和有效的保护措施，可以大大提高显示器的抗静电能力，确保其稳定可靠运行。在整改过程中，反复测试和验证是确保解决问题的关键步骤。1. 显示器接口处的ESD保护。2. 按键处的ESD保护。3. 电源线的ESD保护。1. 设计阶段的预防措施。2. 布线和布局优化。5. 接口和按键保护。6. 电源和地线处理。7. 产品测试和验证。
静电放电抗扰度试验【电磁兼容EMC原理、设计与故障排除】
嵌入式学习资料的博客
10-26 3764
首先，确定受试设备的正常工作状态。然后，受试设备按要求放置，干扰信号施加于受试设备机壳、插座外壳等处，在每个试验点处进行直接放电不少于10次，每两次放电间隔1s。 观察在干扰信号作用下，受试设备的性能是否下降。若受试设备在技术规范内性能正常，则判为A级；若受试设备功能或性能出现暂时性降低或丧失，但能自行恢复，则判为B级；若受试设备因元器件或软件损坏、数据丢失等造成不可自行恢复须人工干预的功能降低或丧失，则判为C级；D级则属不合格。
电磁兼容（EMC）：静电放电(ESD）抗扰度试验深度解读（七）
linkking27的博客
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电磁兼容（EMC）：静电放电(ESD）抗扰度试验深度解读（一）
linkking27的博客
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电磁兼容（EMC）：静电放电(ESD）抗扰度试验深度解读（三）
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