JTAG
英文名Joint Test Action Group(联合测试工作组),是一种国际标准测试协议(IEEE 1149.1兼容),主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议,如DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线:TMS、TCK、TDI、TDO,分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。
JTAG最初是用来对芯片进行测试的,JTAG的基本原理是在器件内部定义一个TAP(Test Access Port;测试访问口)通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起,形成一个JTAG链,能实现对各个器件分别测试,主要的技术为边界扫描技术。如今,JTAG接口还常用于实现ISP(In-System Programmer,在系统编程),对FLASH等器件进行编程。所以通常所说的JTAG大致分两类,一类用于测试芯片的电气特性,检测芯片是否有问题;一类用于Debug和ISP,一般支持JTAG的CPU内都包含了这两个模块。如今 JTAG 接口的连接有两种标准,即 14 针接口和 20 针接口,其定义分别如下所示。
14针JTAG接口 1 、 13 VCC 接电源
2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14 GND 接地