光耦可控硅触发电路需要注意的几个要素:
1/ 光耦的导通电流IF,计算R2。
2/ 门极触发电压VGT,不能太高,R1/R3分压。
3/ 门极触发电流IGT,不能太高,R1限流,R3分流。
4/ R1/R3的计算还要考虑负载阻抗。
5/ 可控硅根据负载选择合适的缓冲电路。
电路如图所示,
图中ELM3052为光电耦合双向可控硅驱动器,也属于光电耦合器的一种,用来驱动双向可控硅BCR并且起到隔离的作用,R1为触发限流电阻,R3为BCR门极电阻,防止误触发,提高抗干扰能力。当单片机的I/O引脚输出负脉冲信号时U1导通,ELM3052导通,触发BCR导通,接通交流负载。另外,若双向可控硅接感性交流负载时,由于电源电压超前负载电流一个相位角,因此,当负载电流为零时,电源电压为反向电压,加上感性负载自感电动势el作用,使得双向可控硅承受的电压值远远超过电源电压。虽然双向可控硅反向导通,但容易击穿,故必须使双向可控硅能承受这种反向电压。一般在双向可控硅两极间并联一个RC阻容吸收电路,实现双向可控硅过电压保护,上图中的C1、R4为RC阻容吸收电路。
ELM3052参数如下
查看参数表可知LED导通电流10mA,导通压降1.2V。那么导通段电阻为R2= (5-1.2)V/10ma。
输出电流最大为1a,R1电阻为220*1.414/1a≈311Ω。
可控硅参数说明及中英文对照表
VDRM | Repetitive peak off-state voltage | 断态重复峰值电压 | 断态重复峰值电压是在门极断路而结温为额定值时,允许重复加在器件上的正向峰值电压.国标规定重复频率为50H,每次持续时间不超高10ms。规定断态重复峰值电压DRM为断态不重复峰值电压(即断态最大瞬时电压)UDSM的90%.断态不重复峰值电压应低于正向转折电压bo,所留裕量大小由生产厂家自行规定。UU | |
VRRM | 反向重复峰值电压 | 在门极断路而结温为额定值时,允许重复加在器件上的反向峰值电压。 | ||
IT(RMS) | On-State RMS Current (full sine wave) | 通态电流均方值 | - | A |
IGT | Triggering gate current | 门极触发电流 | 为了使可控硅可靠触发,触发电流Igt选择25度时max值的α倍,α为门极触发电流—结温特性系数,查数据手册可得,取特性曲线中最低工作温度时的系数。若对器件工作环境温度无特殊需要,通常选型时α取大于1.5倍即可。 | mA |
VTM | Peak Forward On-State Voltage | 通态峰值电压 | 它是可控硅通以规定倍数额定电流时的瞬态峰值压降。为减少可控硅的热损耗,应尽可能选择VTM小的可控硅 | V |
VGT | Triggering gate voltage | 门极触发电压 | —可以选择Vgt 25度时max值的β倍。β为门极触发电压—结温特性系数,查数据手册可得,取特性曲线中最低工作温度时的系数。若对器件工作环境温度无特殊需要,通常选择时β取1~1.2倍即可。 | V |
VGD | Non-triggering gate voltage | 门极不触发电压 | - | V |
IDRM | Maximum forward or reverse leakage current | 断态重复峰值漏电流 | 为晶闸管在阻断状态下承受断态重复峰值电压VDRM和反向重复峰值电压VRRM时流过元件的正反向峰值漏电流该参数在器件允许工作的最高结温Tjm下测出。 | mA |
IRRM | Maximum reverse leakage current | 反向重复峰值漏电流 | mA | |
IH | Holding Current | 维持电流 | 维持可控硅维持通态所必需的最小主电流,它与结温有关,结温越高,则IH越小。 | mA |
R3阻值 = 可控硅导通的最低压降 / 光耦导通的电流,稍取大一些