DDR调试

Bank地址与相应的行地址是同时发出的,此时这个命令称之为“行激活”(Row Active)。
在此之后,将发送列地址寻址命令与具体的操作命令(是读还是写),这两个命令也是同时发出的,所以一般都会以“读/写命令”来表示列寻址。
根据相关的标准,从行有效到读/写命令发出之间的间隔被定义为tRCD,即RAS to CAS Delay(RAS至CAS延迟,RAS就是行地址选通脉冲,CAS就是列地址选通脉冲),我们可以理解为行选通周期。
tRCD是DDR的一个重要时序参数,广义的tRCD以时钟周期(tCK,Clock Time)数为单位,比如tRCD=3,就代表延迟周期为两个时钟周期,
具体到确切的时间,则要根据时钟频率而定,DDR3-800,时钟频率100M,tRCD=3,代表30ns的延迟

 接下来,相关的列地址被选中之后,将会触发数据传输,但从存储单元中输出到真正出现在内存芯片的 I/O 接口之间还需要一定的时间(数据触发本身就有延迟,而且还需要进行信号放大),
 这段时间就是非常著名的 CL(CAS Latency,列地址脉冲选通潜伏期)。CL 的数值与 tRCD 一样,以时钟周期数表示。
 如 DDR3-800,时钟频率为 100MHz,时钟周期为 10ns,如果 CL=2 就意味着 20ns 的潜伏期。不过CL只是针对读取操作。

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lx2160是一款高性能的芯片,支持DDR4内存。在进行lx2160 DDR4调试时,有几个重要的方面需要考虑。 首先,需要确保芯片和内存模块的物理连接是正确的。芯片上有一些DDR4控制器和数据线,它们需要正确连接到内存插槽上的相应引脚。确保插槽和插件之间没有松动,以保证稳定的电连接。 其次,需要正确配置DDR4内存的时序和参数。这包括主频率、CAS延迟、预充电延迟等。根据芯片的性能需求和内存模块的规格,调整这些参数可以提高系统的稳定性和性能。 在调试过程中,还需要进行内存的读写测试。可以使用一些内存测试工具,如Memtest86+,来对内存进行全面的测试。通过检测是否有错误或故障,可以找出问题所在,并作出相应的调整和修复。 另外,还需要注意其他硬件组件的兼容性。确保芯片组、CPU和电源等其他设备与lx2160及DDR4内存相互兼容。如果有不兼容的情况,可能会导致系统不稳定或无法正常工作。 最后,在调试过程中要保持良好的记录和跟踪。记录每一次的调整和测试结果,以便后续分析和解决问题。及时与相关厂商或技术支持人员交流,寻求帮助和建议。 总之,lx2160 DDR4调试需要综合考虑硬件连接、时序配置、内存测试和其他硬件兼容性等因素。正确的调试步骤和仔细的记录是解决问题和优化系统性能的关键。

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