MCU 堆栈使用率的测试方法

一、背景

        一般来说堆栈的使用率概念是针对于操作系统，且操作系统一般都会有响应的接口直接调用查看。如果针对裸机程序的话，堆 Heap 的概念不存在了，只有栈 Stack 在使用，所以在此是针对栈的使用率测试。

二、背景知识

栈的生长方向是从上至下的，如下图所示：

图 - 1

栈顶地址，可以通过生成的 map 文件

在此以 IAR 生成的 map 为例，生成方法

图 - 2

再 选择  rebuild all ，即可在对应的文件夹找到 map 文件 ，打开找到

图 - 3

 

可得到 Stack Top :  0x2000'2c10 ，大小为 0x1000

三、测试方法

测试逻辑：MCU 在上电初始内存中的值是随机的，从 main 函数开始执行，在进入 main 的时候 Stack 的使用率是小的，那么就可以在 这个阶段将 一部分的 Stack 空间值初始化为固定的值（0x00 或者 0xFF 等等），此时并不熟影响程序的正常运行。

 

图 -  4

所以，首先指定一个 偏移地址 ，从偏移地址到 栈底之间的全部初始化为一个固定的值，如果后续程序执行，将会主动修改这些固定的值，这样只需要找到某个地址，该地址前一个地址为非0xFF, 本地址为 0xFF, 如下所示：ADDR2 即为所求。（当然也会存在可能 程序运行时，被修改为 0xFF, 这种特殊情况暂不考虑，本质上也就相差 几个字节，对总体结果影响不大 ）

图 - 5

 

void StackUsageRateTestFillInit(void)
{
    while (1)
    {
        if ( stackCheckAddr >= (stackTopAddr-stackOffsetAddr))
        {
            break;
        }
        else
        {
            *(UINT8*)stackCheckAddr = 0xFF;

            stackCheckAddr++;
        }
    }

    stackCheckAddr = 0x20000000;
}

 上述代码是将 图 - 4  灰色部分初始化

main 函数中调用

void StackUsageRateTest(void)
{

        if ( *(UINT8*)stackCheckAddr == 0xFF )
        {
            stackCheckAddr++;

            DEBUG(" stack addr + [ 0x%X ]", stackCheckAddr);
            
        }
        else
        {
            stackCheckAddr--;
            
            DEBUG(" stack addr - [ 0x%X ]", stackCheckAddr);
        }

}


int main(void)
{


	// 芯片初始化
    Init();

    StackUsageRateTestFillInit();

    while
    {
           StackUsageRateTest();

            // other task 
    }
}

 随着程序的运行，出现如下打印信息

 

那么最终可以确定，Stack Max Use 地址为 0x2000293F ，

栈深为 0x20002C10( Stack Top ) - 0x2000293F

栈的使用率为   StackMaxUse / StackTotal x 100%