一、实验目的
1、学习触发器逻辑功能的测试方法。
2、熟悉基本RS触发器的组成、工作原理和性能。
3、熟悉集成JK触发器和集成D触发器的逻辑功能及触发方式。
二、实验仪器
1.数字电路实验箱
2.器材
三、实验内容详解
1.基本RS触发器逻辑功能的测试
基本RS触发器由两个与非门首位相接构成,如图4-1-1所示。
图中,Rd’和Sd’输入端接逻辑电平开关,Q和Q’输出端接电平显示器。
(1)按表4-1-1的要求给Rd’、Sd’端加信号,借助电平显示器观察并记录Q和Q’的状态,将结果记录于表4-1-1中。
(2)不定状态的测试
连接Rd’和Sd’并接到同一个逻辑电平开关。首先开关打向“L”,即Rd’=Sd’=0。当逻辑电平开关由“L”变为“H”时,即Rd’=Sd’=1时,观察触发器Q的状态,做5~10次或更多次,分析所得的结果,体会“不定”的含意。
2、集成JK触发器逻辑功能的测试
JK触发器是一-种下降边沿触发器,它的逻辑符号如图4-2-1。74LS112芯片是双JK集成触发器电路,其中有两个如图4-2-1的JK触发器。图4-2-2是74LS112在实验箱面板上的逻辑接线图。
(1)异步置位及复位功能的测试
如图4-2-3所示,J、K和CP任意状态(实验时一般悬空),Sa 是置位端,是Rs复位端。Sd’和Rd’接逻辑电平开关,Q和Q’接电平显示器,按表4-2-1情况测试Q端的状态,把结果填入表4-2-1中。(注意: X表示任意状态。)
(2)逻辑功能的测试(J、 K与(Q^(n+1))的关系)
a)按图4-2-4接线,先将触发器置“1”,使触发 器的初始状态为“1”,即Q=1。
①触发器置“1”时,Rd’=1,Sd’=0。
②触发器置“1”完成后,Rd’=1, Sd’=1。
从CP端输入单脉冲(从实验箱面板上取得)。按表4-2-2的情况分别测出Q端的状态,将结果填入表4-2-2中。
注意观察: i)触发器的状态与J、K之间的关系。
ii)触发器是在时钟脉冲的上升沿还是下降沿触发的。
注:表中↑是CP的上升边沿,↓是为CP的下升边沿。
b)将JK触发器接成计数状态(JK触发器转换成T’触发器)
J=1, K=1,Rd’=1,Sd’=1。
①CP端加入单次脉冲,将结果填入表4-2-3中。
②CP端加入连续脉冲,用双踪示波器观察Q和Q’的波形。
①观察触发器被CP下降沿触发的现象:CH1→CP CH2-→Q和Q’
②观察触发器Q和Q’反相的现象:CH1→Q’ CH2-→Q
3、集成D触发器逻辑功能的测试
维持-阻塞D触发器是一种上升边沿触发器,它的逻辑符号如图4-3-1所示。74LS74芯片是双D触发器电路,其中有两个如图4-3-1的D触发器。图4-3-2是74LS74在实验箱面板上的逻辑接线图。
(1) Rd’和Sd’功能测试
按图4-3-3接线,按表4-3-1中情况进行实验,结果填入表4-3-1中。
(2)逻辑功能的测试(D与(Q^(n+1))的关系)
按图4-3-4接线,Rd’=1, Sd’=1, D为1或0, CP端输入单脉冲,按表4-3-2的顺序进行实验,并将结果填入表4-3-2中。
注意观察: i)触发器是在时钟脉冲的上升沿还是下降沿被触发。
ii)时钟脉冲CP作用前后,触发器Q端的状态。
注:表中↑是CP的上升边沿,↓是为CP的下升边沿。
初始置位: {置“1”—Rd’=1,Sd’=0}
{置“0”—Rd’=0,Sd’=1},置位完成后,Rd’=1,Sd’=1。
(3)触发器间的转换: T’触发器逻辑功能测试
本实验用D触发器来实现,令D=Q’,就成了T’触发器,如图4-3-5所示。T’触发器实际上就是一个计数器。
a)单次脉冲触发
按图4-3-6连线,在CP端输入单次脉冲,按表4-3-3顺序实验,观察Q端随CP变化的规律,并填入表4-3-3中。
从上表中可以看出每一个CP, Q端状态共变化5次。
b)连续脉冲触发
将图4-3-6中的“单次脉冲”换成“连续脉冲”,用双踪示波器观察Q和Q的波形。
a)观察触发器被CP下降沿触发的现象:CH1→CP CH2→Q