蓝桥杯 基础练习 芯片测试C++

试题 基础练习 芯片测试

题目要求

资源限制
时间限制：1.0s 内存限制：512.0MB

问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
　　
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
　　
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
　　
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出
1 3

思路

这个题主要是读懂题意，好芯片>坏芯片；
如果被测试成好芯片的次数>坏芯片，可能是好芯片；

代码实现

#include<bits/stdc++.h>
using namespace std;
int main()
{
     int n;
     cin>>n;
     int a[25][25];
     int good[25];
     int num=0;
     for(int i=0;i<n;i++)
     {
         int sum=0;
         for(int j=0;j<n;j++)
         {
             cin>>a[i][j];
             if(a[i][j]==1) sum++;
         }
    //如果这个芯片测试的好芯片比坏芯片多，这个芯片才可能是好芯片，记录下来
         if(sum>n/2) good[num++]=i;
     }

//     cout<<"good"<<endl;
//     for(int i=0;i<num;i++)
//        cout<<good[i]<<" ";

     //记录第i个芯片被测试成好芯片的次数
     int newgood[25]={0};
     for(int i=0;i<num;i++)
     {
         for(int j=0;j<n;j++)
         {
             if(a[good[i]][j]==1) newgood[j]++;
         }
     }

//     cout<<"newgood"<<endl;
//     for(int j=0;j<n;j++)
//         cout<<newgood[j]<<" ";
//    cout<<endl;

     //如果被测试成好芯片的次数大于一半，就肯定是好芯片
     for(int i=0;i<n;i++)
        if(newgood[i]>n/2) cout<<i+1<<" ";
    return 0;
}

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