问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
好芯片比坏芯片多,这句话是解题的关键,第i列数都是其他芯片对i芯片的测试结果,因为好的芯片总比坏的芯片多,所以这一列中1和0哪个数量多,哪个判断就是对的。
#include <iostream>
using namespace std;
int n;
int a[25][25];
int main()
{
cin >> n;
for (int i = 1; i <= n; ++i)
{
for (int j = 1; j <= n; ++j)
{
cin >> a[i][j];
}
}
for (int j = 1; j <= n; ++j)
{
int flag1=0,flag2=0;
for (int i = 1; i <= n; ++i)
{
if (a[i][j] == 0)
{
flag1++;
}
if (a[i][j] == 1)
{
flag2++;
}
}
if (flag1<flag2)
{
cout<<j<<" ";
}
}
cout<<endl;
return 0;
}