一、实验目的
掌握静态随机存储器 RAM 工作特性及数据的读写方法。
二、实验原理与内容
实验所用的静态存储器由一片 6116(2K×8bit)构成(位于 MEM 单元),如图 2-1-1 所示。 6116 有三个控制线:CS(片选线)、OE(读线)、WE(写线),其功能如表 2-1-1 所示,当片选有效(CS=0)时,OE=0 时进行读操作,WE=0 时进行写操作,本实验将 CS 常接地。
由于存储器(MEM)最终是要挂接到 CPU 上,所以其还需要一个读写控制逻辑,使得 CPU 能控制 MEM 的读写,实验中的读写控制逻辑如图 2-1-2 所示,由于 T3 的参与,可以保证 MEM 的写脉宽与 T3 一致,T3 由时序单元的 TS3 给出。IOM 用来选择是 对 I/O 还是对 MEM 进行读写操作,RD=1 时为读,WR=1 时为写。
实验原理图如图 2-1-3 所示,存储器数据线接至数据总线,数据总线上接有 8 个 LED 灯显 示 D7…D0 的内容。地址线接至地址总线,地址总线上接有 8 个 LED 灯显示 A7…A0 的内容, 地址由地址锁存器(74LS273,位于 PC&AR 单元)给出。数据开关(位于 IN 单元)经一个三 态门(74LS245)连至数据总线,分时给出地址和数据。地址寄存器为 8 位,接入 6116 的地址 A7…A0,6116 的高三位地址 A10…A8 接地,所以其实际容量为 256 字节。
实验箱中所有单元的时序都连接至时序与操作台单元,CLR 都连接至 CON 单元的 CLR 按 钮。实验时 T3 由时序单元给出,其余信号由 CON 单元的二进制开关模拟给出,其中 IOM 应为 低(即 MEM 操作),RD、WR 高有效,MR 和 MW 低有效,LDAR 高有效。
三、实验过程
(1)关闭电源,连接电路,并检查无误。
(2) 将时序与操作台单元的开关 KK1、KK3 置为运行档、开关 KK2 置为‘单步’档。
(3) 将 CON 单元的 IOR 开关置为 1(使 IN 单元无输出),打开电源开关,如果听到有‘嘀’报警声,说明有总线竞争现象,应立即关闭电源,重新检查接线,直到错误排除。
(4)先写地址:先关掉存储器的读写(WR=0,RD=0),数据开关输出地址(IOR=0),然后打开地址寄存器门控信号(LDAR=1), 按动 ST 产生 T3 脉冲,即将地址打入到 AR 中。
(5)再写数据:先关掉存储器的 读写(WR=0,RD=0)和地址寄存器门控信号(LDAR=0),数据开关输出要写入的数据,打开输入三态门(IOR=0),然后使存储器处于写状态(WR=1,RD=0,IOM=0),按动 ST 产生 T3 脉冲,即将数据打入到存储器中。
(6)检查上述各单元中的内容是否与前面写入的一致。(同写操作类似,也要先给出地址,然后进行读,地址的给出和前面一样,而在 进行读操作时,应先关闭 IN 单元的输出(IOR=1),然后使存储器处于读状态(WR=0,RD=1, IOM=0),此时数据总线上的数即为从存储器当前地址中读出的数据内容。)
四、实验总结体会及改进建议
按照实验指导书的指示完成了此次的试验,实验结果合理。这次动手实现了静态随机存储让我更加了解了内存的工作原理,对静态随机存储有了比较深刻的认识。