一、单模光纤的模场半径
1.1模场半径的提出
在单模光纤中,单一模式的光并不完全由纤芯承载并局限在纤芯内传播; 而有相当部分的能量(约20%)在包层中传输。 在计算损耗等参量时,用模场半径作为描述单模光纤光能量传输集中程度的参量。
1.2 模场半径的定义
根据CCITT规定,单模光纤输出光斑的光场若近似为高斯分布:
其中,W0 为模场半径,即为 1/ 光场强度的半径,即在W0处,光功率为中心 的1/
。
模场半径与工作波长有关,波长越短,模场半径越小。 对于阶跃型单模光纤,纤芯直径和模场半径的典型值分别为8.3μm和 9.3μm。
1.3 模场半径的实验定义值
模场半径是单模光纤的一个极为重要的参数。可估算单模光纤的连接损耗、弯曲损耗以及微弯损耗和光纤的色散值。
已提出多种模场半径的定义,应用较广泛的有:(1)功率传输函数定义模场半径;(2)最大激发效率定义模场半径
;(3)近场二阶矩定义模场半径
;(4)远场二阶矩定义模场半径
。
1.3.1 功率传输函数定义模场半径
定义为功率传输函数与横向偏移量关系曲线上最大值的1/e处所决定的半宽度。
使两根光纤横向错位,且设光纤具有圆对称性。
功率传输函数:
显然,当d = 时,与严格高斯场的半径对应。对于非高斯场分布,实验表明功率传输函数仍然很像高斯函数,因此也可以将其分布函数最大值的1/e处所对应的位移值定义为模场半径
。
1.3.2 最大激发效率定义模场半径
当以场分布为g(r)的光源激发单模光纤时,激发效率(耦合效率)η以及不重叠度ξ可分别表示为:
f(r)是光纤的近场分布;G(q)和F(q)分别是光源和光纤的远场分布;
q=sinθ/
定义g(r)为高斯分布函数:
1.3.3 模场半径的其它定义
近场二阶矩定义模场半径
“2”对应于场的二阶矩,是光强分布。
远场二阶矩定义模场半径
F(q)是光纤的远场分布。 q=sinθ/
1.3.4 模场半径定义的比较
模场半径的近似表达式
当光纤折射率分布接近平方律分布或归一化频率V值较大时,几种定义求得的模场半径比较一致;当V值较小或折射率分布差异较大时,几种模场半径可能会相差10%~20%。
二、单模光纤的截止波长
使最临近基模的高阶模LP11截止的波长λc 为单模光纤的“截止波长”。当λ> λc时,可以保证光纤工作于单模状态。
截止波长λc 与 LP11模截止时的归一化频率有关
Vc =2.405—阶跃光纤,Vc =3.518—平方律光纤。Vc由折射率分布作计算(等效阶跃光纤)。
理论与实验有一定的误差,且与光纤的弯曲程度有关。光纤越长,截止波长越短。 ITU-T规定以2m长光纤作为标准——λc是个定义参数,测量参数,又称“有效截止波长”。
三、光纤参数测量技术
3.1 注入条件与稳态分布
注入条件不同,光纤受到光激励状况不同,对光纤参数测量带来影响。
(1)稳态注入:激励低阶模;
(2)满注入:激励所有的导模。
多模光纤:芯径/包层直径——50/125um。 = 0.2
稳态注入:近场-3dB 直径<=20um,远场-3dB,数值孔径<=0.2
满注入:近场-3dB 直径>=70um,远场-3dB,数值孔径>=0.3
3.2 扰模器、滤模器、包层模剥离器
3.2.1 扰模器
扰模器:是一种用强烈的几何扰动来实现模式强耦合的装置如下图所示,使光纤在一系列圆棒之间作正弦弯曲,在几厘米之内即可达到模式稳态分布。
3.2.2 滤模器
滤模器:选择、抑制或衰减某些模式,如下图所示,圆棒长20mm,直径12mm,绕5圈,既可达到滤除高阶模的目的。
3.2.3 包层模剥离器
包层模剥离器:是一种促使包层模转换为辐射模的装置。方法是将光纤的一小段去掉涂敷层,浸入折射率等于或稍大于包层折射率的匹配液中使包层模被剥除。
匹配液:丙三醇(甘油)、四氯化碳、液态石蜡。
3.3 损耗的测量
3.3.1 切断法
如下图所示,首先测量待测光纤的输出光功率Pout,然后在距输入端约2m处将光纤剪断,测试短光纤输出光功率作为注入光功率Pin,由此可算出损耗(此为破坏性测试)。
3.3.2 插入损耗法
如下图所示,用一根和待测光纤完全相同的长2m的短光纤与光源耦合,测其输出功率作为待测光纤的输入功率Pin,再通过活动连接器接入待测光纤,测出其输出功率Pout。
3.3.3 背向散射法
提供沿光纤长度的损耗情况。基本原理叙述如下:
将大功窄脉冲光信号注人待测光纤,设在输人端(Z=0)的光功率为到达待测点z处时,功率已衰减到:
又设在z处功率为P(z)的光信号受到散射,反射系数为R(z),则有功率为P(z)R(z)的散射光信号将沿背向传播到达输入端(Z=0)时输出功率为:
若定义平均损耗为:
则由以上几式可得:
Ps和光纤长度L的关系可从光脉冲传播时间与光纤长度L的关系得出
3.3.4 时域反射仪OTDR
由回波损耗的测量方法,可制作时域反射仪OTDR:
OTDR的作用:
- 测量光纤的总损耗
- 单位长度光纤的损耗
- 光纤的连接损耗
- 光纤连接器的回波损耗
- 光纤的长度
- 光纤的宏观/微弯曲
- 光纤的缺陷和断点的位置
OTDR的性能:
- 测量的光纤长度:OTDR能测量的最长距离的反射点;
- OTDR的空间分辨率:能分辨空间两点的最短距离;
- OTDR的测量精度:与设置的光纤折射率有关;
- OTDR的测量盲区(一般为20m):前端面的饱和以及模式不稳定。
3.4 折射率分布的测量
3.4.1 折射率近场法
根据光纤折射光(辐射模) 功率与折射率n(r)成正比而建立起来的测试方法。
测量方法: 利用透镜将光束会聚成很小的光点入射光纤端面,入射最大角 θ'max由输入光栏制,θ'max远大于光纤数值孔径角,以在光纤中激励起导模、漏模和辐射模; 将光纤的一端浸入折射率匹配液盒之中,可使部分漏模与辐射模逸出光纤,形成一个空心光锥; 利用一个遮光盘挡住漏模光,同时限定 θ''min, 由探测器接收辐射模功率P(r)
折射率近场方法简单直接,对单模和多模光纤都适用。空间分辨率优于250nm, 测试误差 <±0.0001.
3.4.2 近场扫描法
以非相干光入射光纤端面,且各个模式均匀激励时,光纤输出端的导模功率分布的变化规律和折射率分布相似:
测量方法:在光纤输出端近场沿直径扫描测得功率分布P(r) ,就 可得到光纤沿直径的相对折射率变化曲线,且可测得折射率分布参数g:
入射光源应使用非相干光源,且在测试时间内应保持光源的强度和波长的稳定。近场扫描法精度比折射近场法要差些。
3.4.3 端面反射法
基于端面菲涅尔反射的功率反射系数R和折射率n(r)有着确定的关系,通过测试R或反射功率P(r)来确定n(r):(反射法对端面处理要求非常严格,精度也不高)
3.5 数值孔径的测量
光纤的数值孔径定义为:
测量方法:折射近场法与远场法。
3.5.1 折射近场法
与测试折射率分布 n(r)的方法相同。由测得的 n(r)曲线可求得 n1和n2 ,由定义式可求得数值孔径 .此方法得到的通常称为标称数值孔径或最大理论数值孔径。
3.5.2 远场法
已知光纤输出远场功率分布P(θ) 与 θ的关系为:
式中,P(θ) 和 P(0)分别为远场辐射图半角θ 处和轴线处 (θ=0) 处的功率;g为光纤折射率分布参数; NAm为最大理论数值孔径。
可以通过测量 P(θ)来确定数值孔径,称为有效数值孔径:
θe是P(θ) 下降到中心最大值的5%时对应的 θ 角
3.6 带宽的测量
3.6.1 时域法
光纤的带宽:
3.6.2 频域法
3.7 色散的测量
用单位长度单位波长间隔内的平均群延时来表示色散程度,定义色散系数为:
基带带宽与色散系数的关系为:
由不同波长的同一正弦调制信号的相移得出群延时与波长的关系。
、
的相移满足:
延时差:(f是光源调制频率)
平均延时差:
由此得
从而得色散系数:
3.8 模场半径的测量
3.8.1 横向位移法
定义传输函数:
用压电陶瓷微位移器和高精度位移传感器实现光纤的横向移动和位移测量。
在接受最大功率的1/处即为模场半径
3.9 截止波长的测量
3.9.1 传导功率法
如上图所示:待测光纤打一个半径等于140mm的大圈:同样的参考光纤打一个半径为30mm的小圈,两根光纤以相同的注入条件被激励,可测输出功率分别为和
.
令两者得比值为:
则可知:
当时,P1≈P2,R(
)≈ 0;
当时,出现LP11模,由于参考光纤中的小圆圈使得LP11模剧烈衰减,R(
)随
的减小而剧烈增加;
当时,待测光纤和参考光纤均达到稳定的双模传输又有R(
) ≈ 0。
由此可得如图所示曲线,R()曲线达到最大值的10%所对应的波长为截止波长
。
3.10 截止波长的测量
3.10.1 模场半径法
-
随
而变化。
改变波长,寻找
发生突变的位置。