存储系统及数据通路实验——数据通路实验

第三部分 数据通路实验

一、实验目的

1、理解数据通路的概念及特性。

2、掌握数据通路传输控制特性。

二、实验内容

1、实验原理

数据通路就是将不同的设备，如存储器、输入设备、输出设备、寄存器等连至总线上。这些设备的输出都需要三态输出控制，如按照传输要求恰当有序的控制它们，便可以实现数据通路的传输。实验框图如图3.1所示。

 图3.1  数据通路的框图

 

2、实验接线

1. J20,J21,J22,接上短路片；
2. J24，J25，J26接左边；
3. J27,J28 右边；
4. J23 置右边T4选“ SD”；
5. JA5  置“接通”；
6. JA6  置“手动”；
7. JA3，JA4 置“接通”；
8. JA1,JA2,置“高阻”；
9. JA8 置上面“微地址”
10. EXJ1接BUS3；
11. CE、ALU_B 置“1”；
12. 299B 置“0”；

3、实验步骤

① 连接实验线路，仔细查线无误后接通电源。

② 初始状态设为：关闭所有三态门（SWB=1，CE=1），其它控制信号为LDAR=0，WE=0。

③在运算器实验中，运算器的输入数据由8位数据开关KD0-KD7提供。数据通路实验中要求运算器的输入数据由存储器来提供。

首先将存储器中置入数据，然后进行存储器读操作，并将读出的数据打入数据寄存器DR1或DR2，再完成8位算术逻辑运算、带进位的8位算术逻辑运算以及移位运算器实验。

具体实验连线及步骤：

（1）根据实验原理详细接线如下：EXJ1连   BUS1    ；系统总清开关拨在"  1   "（0/1）电平。

（2）仔细查线无误后，接通电源。

初始值设置如下：SWB=   1   ，关数据输入三态门；ALUB=   1   ，关运算器输出三态门；AR=  1   ，使电平控制信号无效；299B=  1   ，使移位寄存器使能端无效；CE=   1  ，使存储器片选信号无效；LDAR=  0   ，使地址寄存器使能端无效；LDDR1=  0  ，LDDR2=  0   ，使两个数据寄存器使能端无效。

1. 将表3-1中一组数据送入存储器对应存储单元。

表3-1

主存地址	对应数据
01H	10H
02H	35H
10H	48H
11H	55H
20H	AAH

（4）读出存储器中的数据。具体操作步骤如下：

（a）将存储器地址送入AR：置KD7-KD0为00000010，置SWB=    0   ，CE=   1   ，打开输入三态门，然后置LDAR=    1  ，打开AR输入控制开关，按动    T3    开关，则T3输出一个正单脉冲，将数据置入AR。

（b）置SWB=  1  ，CE=   0  ，关闭输入三态门，置LDAR=   0  ，关闭AR输入控制开关，置WE=  0   ，使存储器读有效。则通过LZD7-LZD0可观察读出结果。

（5）将读出的数据分别送到DR1和DR2寄存器。置LDDR1=   1   ，打开DR1输入控制开关，按动     T4      开关，将数据置入DR1寄存器。

用同样的方法，将00010000单元的内容送入DR2寄存器。

（6）检验DR1和DR2中存入的数据是否正确，利用算术逻辑运算功能发生器 74LS181的逻辑功能，即M=  1  。具体操作为：关闭数据输入三态门SWB`＝   1   ，打开ALU输出三态门ALUB`＝  0   ，当置S3、S2、S1、S0、M为  11111   时，总线指示灯显示   DR1   中的数，而置成    10101     时总线指示灯显示   DR2   中的数。

（7）以存储器中数据作为运算器数据来源，验证74LS181的算术运算和逻辑运算功能（采用正逻辑）。

改变算术逻辑运算功能发生器的功能设置，观察运算器的输出，填入表3-3中，并和理论分析进行比较、验证。

表3-3

DR1	DR2	S3 S2 S1 S0	M=0（算术运算）		M=1（逻辑运算）
			Cn=1 无进位	Cn=0 有进位
35H	48H	0 0 0 0	35H	36H	CAH
		0 0 1 0	B7H	B8H	48H
		0 0 1 1	FFH	00H	00H
		0 1 1 0	ECH	EDH	7DH
		1 0 0 1	7DH	7EH	82H
		1 0 1 1	FFH	00H	00H
		1 1 1 1	34H	35H	35H

（8）以存储器中数据作为运算器数据来源，验证移位运算器功能

 （a）重复第（3）步，将存储器01H单元的内容从存储器读出。

 （b）将读出的数据送到移位寄存器。

置ALUB=   1   ，关闭运算器输出，置299B=    0  ，打开移位寄存器控制开关。置S0=  1   ，S1=  1  ，按动   T4     开关，将数据置入移位寄存器。                                                                                                                           

（c）移位，参照表1-2改变S0、S1、M、299B的状态，拨动手动脉冲开关以产生时钟脉冲T4，将移位结果填入表3-4，并和理论分析进行比较、验证。

表3-4

移位寄存器数值	299B	S1	S0	M	移位结果
00010000	0	1	0	0	00001000
	0	0	1	0	00100000

三、实验数据记录

1、画出实验过程中的数据通路。

2、记录数据的传输过程。

数据的传输过程：首先把地址信息写入到地址寄存器AR中，并把每个地址所对应的数据内容写入到存储器RAM中，通过运算器对存储在里面的数据进行运算，观察数据的输出结果。

四、根据实验结果分析数据在数据通路中的传输过程。

第一个输入数据是地址单元，第二个输入数据是存入到该地址单元的数据内容。地址单元保存到地址寄存器AR中，数据信息保存到RAM中，在调用时输入地址信息，就可以看到里面所保存的数据内容，并对此进行操作。

五、实验总结

通过这次实验，我理解了数据通路的概念及特性并掌握数据通路传输控制特性。数据通路就是将不同的设备，如存储器、输入设备、输出设备、寄存器等连至总线上。这些设备的输出都需要三态输出控制，如按照传输要求恰当有序的控制它们，便可以实现数据通路的传输。此次实验就是为了数据是如何在通路中进行传输的。结合了原理与实际操作，就更能理解计算机组成原理的应用。

六、思考题

1、实验步骤③中输入的两个数据分别表示什么？有什么不同？

答：第一个输入数据表示的是地址单元，第二个输入数据表示的是存入到该地址单元的数据内容。区别在于地址单元保存到地址寄存器AR中，数据信息保存到RAM中，在调用时只需输入地址信息，就可以看到里面所保存的数据内容，并对此进行操作。

2、若不采用输出到数码管上显示，有否方法可验证写入存储器单元的内容是否正确。

答：在DVCC系列实验箱上，除了采用输出到数码管显示，没有其他方法来验证写入数据是否正确。