OFDR测量插回损的原理及方法

随着技术发展，光学器件、模块内部光链路越来越长，越来越复杂。传统的功率计、插回损仪测试方案在某些场合已不能满足高精度、细节化的插回损测试需求。而光频域反射技术（OFDR）能对光纤链路上每个位置的插损、回损进行定位与精准测量，测量动态范围分别为18dB、70dB，测量精度达±0.1dB。

光频域反射技术（OFDR）通过背向散射法测量整段光纤（光链路）的反射信号曲线，然后精准找到待测点使用积分回损计算此点的回损，再通过回损计算插损。背向散射法测试插回损示意图如下：

图中，DUT可以是某一个点也可以是有一定长度的连续光链路。

1.积分回损

采用OFDR分布式反射测量曲线计算某个位置回损通常使用积分回损来表征。这种方法与我们通常读取峰值高度或者直接读取设备上显示的数值有较大区别。我们知道，光频域反射是测量光纤或光链路内部连续的回波信号强度，当某点的回波信号变大时，相应的干涉出来的信号也会随之变大，反映到结果曲线上即出现反射尖峰，并且信号越强峰值越高，峰的宽度也越高。

如果我们选取峰的最高点作为回损值，则可能会出现回损值变化较大导致测不准的情况，而采用积分回损可以完美解决回损测试精度和稳定性问题。使用待测峰左右各对称的一段距离内（window range）的所有数据作积分求和的回损结果作为此事件点的最终回损值不仅能够精准表征峰的回损大小，还能使结果不会随着峰的形状变化以及最大值的跳动而变化。因为结果曲线中的纵坐标数值为对数坐标（db），转化成功率后实际上对结果的贡献绝大部分来源于峰，噪声对最终结果的贡献较小，从而达到精确与稳定的目的。

2.窗口长度

通过以上的描述可以知道，要精准计算某个事件点（反射峰）的具体回损，左右对称的一段窗口长度（window range）的合理设置是关键。由噪声和峰对结果的贡献程度可知，当确定某个事件点（反射峰）后，以其为中心的左右window range范围内不能再有过多的超过底噪水平的数据（关键原因）。也就是说在设置window  range 时其范围内不能再有其他反射峰（甚至是杂峰、鬼影都会对结果有影响）。所以灵活选择window range 对回损计算的准确性和稳定性至关重要。比如当两个事件点较近时，窗口范围一定只能包含一个待测的峰值，以下图测试带防尘帽的APC连接头回损为例，如果我们想要精确知道APC头的回损，则窗口选取范围如下图所示：

如果想知道连接头端面+帽子总体造成的回损，则可以把两个峰均包含进去。窗口长度的物理意义即是此长度范围内的平均回损。当范围内的事件点仅有一个时，平均回损则可精准表示实际事件点的回损。

3.插损计算

  除了回损指标，插入损耗同样是光通信中重点关注的指标。使用OFDR计算插损的原理是使用待测DUT前后一个合适的位置的回损相减，并除以2得到。以上面插回损测试示意图为例，DUT的插损为：IL=-10lg (P2/P1)。1、2处的回损分别为：RL1=-10lg(Pr1/P0)、RL2=-10lg(Pr2/P0)。当1、2处光纤的散射系数相同时，可推导出IL=(RL1-RL2)/2（背向散射法是反射式测量，光信号往返两次经过DUT，因此需除以2）。这里有个前提，DUT前后的光路的散射系数需要完全相同，否则不能正确计算。当光路里面没有任何其他反射，且介质均匀的话，其反射为光纤的瑞利散射，此时在结果曲线上反映出来的噪声是笔直且均匀的。当链路中有插入损耗后，噪声水平（瑞利散射）会整体下降，即插损会使OFDR结果曲线产生噪声台阶，下降的台阶高度才能精准表征插入损耗大小。

上图为一个机械式的可调节衰减器接入OCI设备测量得到的曲线。可以看到，中间的高反射峰为衰减器内部结构造成的反射，在衰减器前后一米左右的长度范围内，噪声均是水平且均匀，此时的噪声台阶完全由衰减器损耗带来。通过上面一节公式，计算出衰减器前段某个位置的回损（黄色游标）以及经过衰减器后，后面一段某个位置的回损（红色游标），然后再计算此衰减器插损。注意：游标位置以及窗口长度（window range）选取不能包含0点位置的反射峰和末端连接头的反射峰，以免对结果准确性造成影响。

  4.异常情况及处理

   实际测试中，有一种情况需要特别注意，即测试结果中存在特别强的反射峰情况。这种反射峰通常对应待测链路中存在高反射（如：UPC/PC连接头、增反膜、反射镜、高反波导等）。此种情况下的结果曲线计算插回损，通常是不准确的。仍然以可调衰减器为例，在末端再连接一个UPC连接头尾纤，接入OCI设备，测试结果如下：

由测试结果图可以看出，末端的UPC头带来的强反射使得靠近强反射峰附近的噪声信号产生了明显畸变（向下凹陷）。显然，同样的插损，此时再用结果曲线去计算，明显的黄色游标位置和红色游标位置之间的噪声台阶已然不明显，整体曲线呈现连续的下降斜坡，此种情况的底噪已不是瑞利散射噪声台阶，不能用于插损测试与计算。实际上，最终结果曲线的噪声信号出现任何凹凸不平、上下抖动、异常的高于底噪的噪声、杂峰鬼影都将会影响插回损的精确测量。实际测量中应尽可能避免或者消除噪声畸形，保证噪声信号笔直，水平。

对于强反射信号，可以把末端UPC连接头放入光纤匹配液中来降低反射，同时不影响待测衰减器的插损，测量结果如图所示：UPC连接头放入匹配液中后，反射明显降低，末端反射降低后，噪声变成笔直水平，此时的数据结果，可用来准确计算插回损。另外，为了保证测试结果的稳定性和重复性，窗口长度不建议选择太短（窗口长度太短则数据量太少，容易受数据跳动的影响），通常应大于10cm，结果会更加稳定和精确。

关键词：OFDR、分布式插回损、光纤链路诊断

昊衡科技：

一家集研发、生产、销售于一体的高科技公司，专业从事工业级自校准光学测量与传感技术开发，也是国内首家实现OFDR技术商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率产品，水平比肩国际同类型产品，主要应用于光学链路诊断、光学多参数测量、高精度分布式光纤温度和应变传感测试。已与全球多个国家和地区企业建立良好的合作关系，并取得诸多成果。