文章讲述了作者完成了一个INL测试UI，用于评估AD转换器在实际工作条件下的性能，包括ADC的测试挑战、过采样问题以及通过MODBUS-RTU协议进行自动化测试的过程。实测结果显示了不同电压范围的测试数据。
这几天完成了AD转换INL测试UI的逻辑部分，这个功能是我一直想实现，因为工作中经常想要用到这样一台设备。我在公司做的大部分控制板都带有数据采集部分。
做数据采集都是ADC+前端模拟调理电路，虽然ADC数据手册都标明了各种指标，但是ADC的测试条件你不一定能达到，数据手册上的数据可能是用超低噪声基准+超低噪声电源+超低噪声信号得出的指标，但用在产品上不一定有这样的环境。同时还有外部调理电路问题的叠加，更加无法估测其真实性能。
还有比如我一直想评估的过采样问题，通过过采样来实现超过ADC本身位数后性能到底如何？会不会失码？会不会出现非线性问题？虽然理论上说都没问题，但还是想亲自验证下。
INL测试功能完全是针对我自己设计的，我平常设计的控制器大多带有MODBUS-RTU协议，所以该测试就是通过设置源输出然后通过通讯读取目标设备的采样值，通过计算对比来实现INL的测试，平常一个个数据手测时非常麻烦所以导致测试点非常有限，而有了这个自动测试程序后可以大大增加测试点得出更准确的数据。甚至可以逐码测试看看有没有失码。当然测试点数越多时间越长。
下面上实机运行照片。
（目标被测设备是公司一个低端8通道数据采集模块的测试数据，模块输入范围正负20V，设置成正负20000字。所以对应1000/V的比例值。下面所有的测试也是用该模块。）
0-15V递增0.1V运行中
运行结果（编号升序，表格可以上下滑动查看所有数据）
运行结果（INL降序，目前只做了这两种排序功能）
0-3V逐码测试运行中
0-3V逐码测试结果（编号升序）
0-3V逐码测试结果（INL降序）
0-9V逐码测试中
0-9V逐码测试结果（编号升序）
0-9V逐码测试结果（INL降序）
测这个东西测了几个小时，放在那测试去干其它事了。电池电压也从4024mV消耗到3915mV，还没测全码，信号源也只能输出-15到15V也测不了全码。
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