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本文介绍了一种用于检测液晶面板Mura缺陷的方法，包括图像预处理、DCT滤波、背景重建和缺陷量化。通过扫描和CCD相机获取图像，利用DCT和低通滤波策略减少噪声，并通过阈值分割检测Mura。采用人眼敏感度的JND模型量化Mura程度，该方法在实际应用中展示了良好的检测效果。
图2展示了开发的流程图方法:
一种分割方法来检测区域不均匀。首先检查图像的背景，利用DCT原理和an图像过滤策略。然后可以检测出Mura缺陷并利用所开发的分割策略进行量化。一个首先从TFT LCD单元中获取液晶图像将其变换到频域，然后采用低通滤波策略对其进行滤波，提取其主图像组件。然后是逆离散余弦变换(IDCT)用于重建背景图像。提取不均匀缺陷采用图像减法进行分割从背景图像。紧接着，mura出现了缺陷然后用刚刚显著的差异(JND)来量化级别定义由半导体设备和材料国际)。方法中使用的每个步骤将在下面的小节中详细介绍。开发用于mura检测的硬件系统图3是所开发硬件的原理图mura自动检测系统。
液晶面板是由一个控制背光照明和检查下黑暗房间的状况。该系统包括背光控制模块，X-Y-Z扫描单元，CCD照相机和一台个人电脑。TFT液晶模块是自动安装由自动装卸单元进入集线器的背光控制模块量。所开发的硬件系统原理图自动色差检查。准确的定位。因为TFT LCD的大小面板太大，不能用一个单一的视场来检查
对于图像传感，采
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