在插Tessent mbist的时候，如果没有Tessent OCC，又想留一条mbist 低速测试的debug路径，则需要在Memory clk和bist_clk共同路径节点处插一个mux。bist_clk实质是Memory clk中的一路clock，即bist_clk是选的memory clk中的一个，所以这个mux是插在memory clk上面的，可能会影响到memory的clock delay从而影响memory性能。
插入的tessent_persistent_cell_tck_mux_*_inst，可以指定其插在port上，也可以说buf或者ckcell的output pin上面，具体位置在spec中指定node就行。
spec加入一个TCKInjectionPoints的Wrapper指定：
同时，在生成mbist的tck脚本还要加个生成tck_select信号tdr的设置：
电路生成之后，正常情况下默认是不用TCK作为Memory clock用的，只有debug的时候才用TCK的clock作为Memory clock低速测试。即pattern重新生成低速TCK的pattern，而pattern spec就需要指定一个tck_clock_only:on的设置：
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