JTAG(Joint Test Action Group)调试是一种常见的嵌入式系统调试方法,主要用于测试和调试芯片、电路板等嵌入式系统的硬件部分。
JTAG 调试通过 JTAG 接口连接目标板和开发环境,使用 JTAG 调试器读取和写入目标板上的寄存器和内存,以及控制目标板的运行流程。
JTAG 调试的优点包括:
- 可以远程进行调试,不需要将目标板连接到开发环境,提高了调试的灵活性。
- 可以对硬件进行调试,不需要修改硬件设计和软件代码。
- 可以对多个目标板进行并行调试。
JTAG 调试的缺点包括:
- 需要使用 JTAG 接口和 JTAG 调试器,增加了调试的成本。
- JTAG 调试可能会对目标板的性能产生影响,特别是在高频率和高并行的情况下。
JTAG 调试通常用于嵌入式系统的开发和测试阶段,以便进行硬件调试和软件调试。