闪存测试带你“看透”长江存储 TLC！

固态硬盘测试属于成品测试，而行业人士都知道，固态硬盘的最主要组成部分就是闪存颗粒，也就是说闪存颗粒的质量与性能很大程度上决定着固态硬盘的质量。

 

因此从颗粒本身出发了解其质量与性能，从而规避和减少原材料的损失和浪费是很有必要的，这就需要进行“闪存测试”。

 

而论“长江存储64层TLC 3D NAND 原厂颗粒”质量和性能究竟如何，恐怕还是需要拥有对颗粒进行专业检测技术和设备的企业来验证。

 

忆数存储此次就采用自我研发的专业闪存测试设备FT-1008对长江存储64层TLC 3D NAND 原厂颗粒进行了全面系统地检测并得出了数据报告。

 

具体内容如下▼

 

 

 

 

 

• 测试对象：长江存储TLC
• 型号：YMN08TB1B1HU1B
• 大小：128GB/颗
• 测试数量：4pcs

 

注：闪存测试是 SSD 生产前的 FLASH 数字化精准检测，实现了对 FLASH 质量、等级、寿命的把控，以确保成品质量的一致性及可靠性。客户可通过本报告，对我司 SSD 的 FLASH 质量进行全面了解。同时，可参考本报告对 SSD 成品应用环境实施评估，充分发挥其使用价值。

 

 

 

01闪存信息

 

 

• 品牌：长江存储
• 类型：TLC
• 块数：2012
• 块大小：1152
• 页大小：18432
• 备注：宽温测试

 

 

02测试项目

① 测试平台

 

②测试项目汇总

 

 

03测试结果

4 颗闪存测试结果一致性很强，选取一颗作为范例分析。

①PE

（图1）

 

说明：该芯片常温错误数在各页面分布差异较大，个别页面偏高但整体错误率较低；在高温及低温环境下新增 7 坏块，不适用于宽温温度环境（坏块未计入错误率，所以高温新增坏块后错误率反而降低，属正常现象）。

②寿命实测

（图2 错误数）

说明：该芯片寿命常温实测中错误数增长缓慢，趋势较平稳，接近 MLC。

（图3）

说明：错误数增长远低于普通 TLC 芯片，表现优秀。ECC 设置 400 为寿命终结条件时，芯片寿命常温为 23399；ECC 设置 800 为寿命终结条件时，常温寿命为 27300，达到了普通 MLC的标准。宽温环境下错误数变化异常，且有新增坏块产生，不适应宽温环境，图形仅供参考。

*编程

（图4）

说明：寿命周期内，常温编程时间相对衰减较平稳，符合芯片特性。当达到寿命终结条件时，编程时间衰减明显加大。高低温编程时间从开始即衰减严重，仅供参考。

*擦除

（图5）

说明：寿命周期内，符合芯片特性，表现正常。宽温异常，不适应宽温环境。

③与同类型闪存对比

*1 次 P/E

（图6）

 

说明：长存芯片的最大页面错误数较高，但整体错误率及坏块低于 B17。

*寿命实测 P/E

（图7）

说明：寿命周期内，长存的错误增长相对平稳很多，寿命 23399 远超 B17(3200)，表现稳定。

*编程、擦除对比

（图8）

说明：在 B17 生命周期 P/E 内对比可见，长存的编程、擦除时间变化比 B17 平稳很多。

 

04测试结论

①测试值

 

注：↑表示偏高；↓表示偏低；•表示适中；×表示不适用；★表示星级（满分 5★）

 

②应用建议

 

注：红色“●”表示不适用；橙色“●”表示适用；绿色“●”表示优秀

 

*该芯片寿命长、表现稳定，常温成品应用可保证长效稳定。

 

—— 总结 ——

 

长存的 TLC 在常温下几乎达到了 MLC 的所有标准，甚至超出部分 MLC，尤其是在寿命方面超出部分 3D MLC，特别是读写错误率也非常低，远超其它TLC，完全能够当 MLC 去承担大量写的应用要求，目前拿到的样品还不能满足高低温下的使用要求，当然市面上大部分 TLC 都无法满足高低温应用要求，所以长存的这颗 TLC 已经非常优秀了，不仅实现了国产化，还实现了弯道超车。期待容量更大更好的产品出来，后续我们还会继续做实际的应用测试。

 

申明：本次测试是采用武汉忆数存储自主研发的测试设备，具体技术指标请参考原厂技术资料，本次所有测试数据仅供参考！