NAND Flash 芯片测试

DFT : Design For Testability

TTR :Test Time Reduction

KGD: Known Good Die

NAND Flash 芯片测试主要是为了筛选（Screen Out）出Flash阵列、译码器、寄存器的失效。

测试流程（Test Flow）

从wafer level，到single component level、module level，定义各项测试的次序，筛选出性能较差和失效的device，需要尽可能达到最好的测试覆盖率，避免最后出货的产品中有失效的产品，同时需要减少测试的时间与成本。

Burn-in测试

普遍来说，是为了了解产品的潜在失效分析而在一定条件下（高温/高电压/一定湿度）下加速芯片老化，以至于故障提前出现。这种测试侧重在封装相关层面，包括化学和机械等因素。

根据浴盆曲线，产品的早期失效率较高，中间阶段比较稳定。为了让用户拿到的产品失效率较低，就要通过burn-in测试，剔除有缺陷的产品，让出货的产品在出厂前就度过早夭期。为了减少时间，需要进行加速，即在更恶劣的条件下试验（高温/高电压/一定湿度），而且根据理论可以计算出不同条件下的加速因子，根据实际时间计算出等效的时间。

控制测试成本的一个重要方向是提高测试的并行度。

测试机台在测试一批产品时，必须等待所有产品都完成后，才能开始下一阶段的测试。

减少测试时间，主要优化以下两方面：

1. 写读擦时间

2. 数据导入和结果获取

写读擦的时间由芯片特性决定，可以努力的方向在于如何同时对多个chip或block进行操作。

如果芯片可以自己生成测试数据，就可以节约数据输入的时间，这点可以通过DFT实现。如果可以直接得到测试成功失败的信息，不需要将原始的数据传输到测试机上，也可以节约大量时间。

参考 

Inside NAND Flash Memories