![](https://img-blog.csdnimg.cn/20201014180756738.png?x-oss-process=image/resize,m_fixed,h_64,w_64)
固态硬盘
advanced-test
这个作者很懒,什么都没留下…
展开
-
一种基于fio实现的SSD稳定性自动化测试方法
本测试采用Windows BAT脚本,基于开源的fio和7Z制作,可以有效的检测SSD固件是否存在FTL层面缺陷(建议样品数大于20,连续测试时间不低于12小时),也可以作为SSD性能测试工具改进日志:1、增加非administrator账户下,UAC提权,以适应非administrator账户环境2、参考JESD219标准,增加1K\1.5K\2K\2.5K\3K\4K\8K\16K\32K\64K\128K\256K\512K\1M\2M\4M\8M\16M\32M\64M块大小循环测试,模拟原创 2021-03-25 21:52:40 · 1877 阅读 · 3 评论 -
西数SN550冷启动不认盘,睡眠休眠唤醒掉盘解决方案
故障表现:部分B450、B550主板(比如B450M MORTAR MAX、B550M MORTR、华硕b550i)上的第二个M2插槽上安装SN550时,会出现冷启动随机不认盘,或者是在睡眠、休眠唤醒后出现掉盘不认的情况,但重启后又正常,开启CSM后有所缓解故障分析:一种说法是nvme1.4跟老主板兼容性不好,但是SN550在Z270、B250、Z370这种老主板上反而能正常工作,按道理1.4是应该向下兼容的;还有一种说法是SN550在二号位加电太慢,PCIe链路建立慢导致主板BIOS抓取不到设备解原创 2021-01-10 23:52:26 · 7605 阅读 · 12 评论 -
海康威视E200Pro固态硬盘(联芸MAS0901)SMART信息解析
基于江波龙Longsys SSD toolbox、CrystalDiskInfo、海康SSD toolbox、硬盘哨兵推断而来,部分内容可能有误09 带电工作时间0C 通电次数A7 SSD Protect Mode,正常原始值为零,可以读取和写入,当闪存寿命临近耗尽时数值变为1,只允许读取禁止写入A8 SATA PHY Error Count,物理层错误计数A9 Bad Block Count 新增坏块数量,联芸方案这个数值都是0x00 00 02 00 00 10...原创 2020-12-27 22:53:21 · 3421 阅读 · 0 评论 -
闪存测试带你“看透”长江存储 TLC!
固态硬盘测试属于成品测试,而行业人士都知道,固态硬盘的最主要组成部分就是闪存颗粒,也就是说闪存颗粒的质量与性能很大程度上决定着固态硬盘的质量。因此从颗粒本身出发了解其质量与性能,从而规避和减少原材料的损失和浪费是很有必要的,这就需要进行“闪存测试”。而论“长江存储64层TLC 3D NAND 原厂颗粒”质量和性能究竟如何,恐怕还是需要拥有对颗粒进行专业检测技术和设备的企业来验证。忆数存储此次就采用自我研发的专业闪存测试设备FT-1008对长江存储64层TLC 3D NAND 原...转载 2020-12-08 20:33:09 · 4100 阅读 · 0 评论 -
MLC的寿命是否真如厂商标称的只有3000次?论原装芯片测试的重要性!
一般而言,MLC 3000次P/E cycle寿命是业界共识,那么,MLC每一个Block是否真的可以擦写3000次?是否可以远远超过3000次?本文以实际测试阐述闪存芯片测试的重要性。本末倒置一下,先讲结论,对于时间紧迫且无心细看者来说,也可省却拉到底部看结论的麻烦。测试结论:1、标称3000次寿命的MLC,实际测试,部分Block可以超过20000次;2、每个Block都是独立的个体,每个Block的初始状况都不完全相同,尽管是同一条产线同一种工艺;3、无论原装Nand ..转载 2020-12-08 20:11:31 · 4857 阅读 · 0 评论 -
SSD固态盘高低温测试方法
高低温测试分为温度循环和温度冲击两种测试。注意:“由于从低温到高温转换过程中,会有大量结霜变成水珠,水珠会导致芯片管脚直接的短路,导致SSD被烧毁,因此,被测试固态硬盘必须要做加固及防水处理!!!”-40°C时,被测电路板表面凝霜实图:温度循环测试温度循环是指设定温度从-50°C保持4个小时后,升温到 +90°C ,然后,在+90°保持4个小时,降温到-50°C,依次做N个循环。工业级温度标准为-40°C ~ +85°C,因为温箱通常会存在温差,为保证到客户...转载 2020-12-05 23:00:49 · 2215 阅读 · 0 评论 -
SSD固态盘掉电保护测试原理及要点
前言固态硬盘由于必须使用FTL做逻辑地址和物理地址之间的转换,如果在SSD读、写、删除等正常工作的情况下出现异常掉电,有可能会导致mapping table的因为来不及更新而丢失,从而出现SSD无法被系统识别的故障。同时,为了提升读写性能,通常使用SDRAM做缓存,如果在读写过程中遭遇异常掉电,SDRAM中的数据可能来不及写进Nand Flash导致数据丢失,或者更新的映射表来不及写进Nand Flash导致映射表丢失。异常掉电导致的故障现象SSD异常掉电通常会出现三...转载 2020-12-05 22:55:11 · 2990 阅读 · 1 评论 -
鉴别二手拆机FLASH颗粒
如果所有的page performace在每次program时都是基本相同的,那么,这个Nand Flash颗粒应该是最稳定、最可靠的,因此,通过观察每个page performance的分布,可以大致看出Nand Flash的可靠程度。尽管每个Nand Flash的datasheet都会注明Erase、Program、Read Performance的详细时间,事实上,这些Performance是将Lower page和Upper Page进行了平均,那么,给人的误导就是每个page的perfo.转载 2020-12-05 22:45:05 · 367 阅读 · 0 评论 -
SATA协议固态硬盘的S.M.A.R.T详解
兵哥写这篇文章,是因为在测试的过程中看到了SSD存在偶尔有性能下降的情况,经分析为S.M.A.R.T命令所导致,虽然这种情况看似不严重,但如果应用在诸如数据采集等关键性领域,有可能会导致丢失数据包的严重后果,当然,这个bug是可以修正的,先看图片:S.M.A.R.T概述S.M.A.R.T.(Self-MonitoringAnalysisAndReportingTechnology),意思为“自我检测分析与报告技术”,从名字也能看出其作用是故障预警,固态硬盘可以通过监测...转载 2020-12-04 21:19:32 · 10454 阅读 · 0 评论 -
固态硬盘的坏块管理,你知道和不知道的
坏块是如何产生的,SSD又是通过什么样的手段来发现和管理坏块,厂商建议的坏块管理策略存在什么样的问题,什么样的管理方法会更优,格式化硬盘会不对导致坏块表丢失,SSD返修后产生哪些安全隐患,本文逐一进行阐述。概述坏块管理设计理念,关系到SSD可靠性和效率。一些Nand Flash厂商给出的坏块管理做法未必非常合理,在进行产品设计时,如果对一些异常条件考虑的不足够周全的话,常常会导致一些预料之外的坏块产生。例如,兵哥在测试多家不同主控SSD后发现因异常掉电而产生新增坏块的问题...转载 2020-12-04 20:52:49 · 5208 阅读 · 1 评论 -
攻城狮,你知道闪存电压拉偏时的一些基础数据吗?
兵哥认为:产品的品质,不仅仅是考量做工有多好,材料有多好,更重要的是,对各种可能会导致故障的因素提前做预防措施有多少。电压有时真跟人生一样,起伏不定,难以把握,错误的时间、错误的地点导致错误的发生……先想象一下公交车司机的威猛,就可以理解电压不稳的应用场景:绿灯没亮,已经档位就绪,恰恰在绿灯转红灯的那一瞬间,司机一脚油门,发动机巨大的轰鸣声夹杂大伙儿齐刷刷向后倒的那种因强烈“推背感”而不由自主发出酸爽的尖叫和骂娘声,司机愣是将公交车开出了跑车的感觉。而此时的SSD,一边安逸的播...转载 2020-12-04 20:32:59 · 1034 阅读 · 0 评论 -
SSD断电保护方案及保护方案的安全隐患
技术进步,与其说是技术人员的努力,不如说是无数用户血泪控诉的结果……事实上,在消费领域,因为异常掉电导致用户整盘数据丢失的现象屡见不鲜,而SSD厂商基本没有能力提供数据恢复工具(除非controller厂商愿意提供给SSD厂商)。那么,异常掉电会导致那些问题的产生呢?通常情况下,如果没有断电保护,固态硬盘会面临三大问题:1、丢盘,即,在重新上电之后,SSD无法被BIOS所识别,更无法登录OS。丢盘现象在消费级SSD领域非常普遍,百度一下,结果应该可以用“汗牛...转载 2020-12-04 20:25:30 · 3788 阅读 · 0 评论 -
高低温对Nand Flash原始误码率(RBER)及Operation time的影响
温度对电子产品性能和稳定性的影响是毋庸置疑的,对于提供工业和军工级别的SSD厂商来说,不仅仅是选用工规器件那么简单,从控制器参数的冗余设定到外围电路的布线、PCB板材的选择都需要经过真正的高温、低温测试才能得出精确的参数。低温测试是件耗时、费电的工作,5000W的降温设备嗡嗡响了整整两天。高低温测试过程中最大的问题在于从低温到高温转换的过程中,芯片管脚和底部的结霜会融化,很容易造成短路。低温状态下,线路板和元器件表面完全被结霜所覆盖:从低温箱中取出,线路板表面很快就被...转载 2020-12-04 20:14:05 · 2695 阅读 · 0 评论 -
MLC转成SLC模式没有想象的那么好
序言MLC可以通过set fetures命令将MLC或者TLC转换为SLC模式,不知道那位有才人起名曰:pSLC,应该是Pseudo SLC的缩写,浓浓的歧视味道扑面而来。尽管很多厂商已经开始使用此模式供货,但目前为止尚未见到任何关于MLC转为SLC之后的有详实测试数据的关于擦写次数以及可靠性评估文章。兵哥希望用真正的测试数据来验证MLC转为SLC之后,是否与理论上推测的接近。MLC可以转SLC的理论依据MLC与SLC的区别就在于一个cell中存几个bit的数据...转载 2020-12-04 20:07:21 · 1683 阅读 · 0 评论 -
寿增三倍的磨损平衡算法思想
本文前面部分介绍磨损平衡产生的背景以及常用的算法思想,后半部分介绍了一种可以寿增三倍的磨损平衡算法:Non-Blance算法,高手可以直接跳过前面部分。为了让闪存拥有更长久的生命周期,避免一些块被频繁擦除而迅速成为坏块,而另一些块则因极少擦除这样不均衡的擦写而导致SSD整体生命周期缩短的弊端,闪存从业者提出了多种磨损平衡算法(Wear-Levelling)和垃圾回收(Garbage Collection)策略来规避这些问题的产生。磨损平衡算法产生的背景磨损平衡算法是基于闪存的...转载 2020-12-04 20:02:20 · 707 阅读 · 0 评论 -
闪存误码根源分析及测试
Bit错误从Nand Flash物理机构上来说是不可避免的问题,Nand Flash受外界工作环境(如:温度、辐照等)和生产工艺、工作原理、存储材料本身的弊端等影响,总会在各种条件下产生错误。误码率是表明在一定条件下产生错误的比率,反映Nand Flash当前的可靠性状态。产生误码的物理根源Cell的本身是个浮栅(Floating Gate,以下缩写为FG)结构的MOS型晶体管,工作原理是通过对FG注入或者释放电荷改变存储单元的阈值电压来达到存储或释放数据的目的。Program“0”通过Contro转载 2020-12-04 17:01:33 · 1795 阅读 · 0 评论 -
固态硬盘Upper Page和Lower Page那些事儿
本文转载于领存技术 楚一兵根据Lower page和Upper page的不同特性解决不同的问题,在实际的应用中会带来极好的效果,如:提升性能、大幅提升寿命、解决异常掉电的可靠性安全隐患等等。一些特殊应用或许会带来其他方面的损失,如:提升性能和寿命可能需要牺牲容量等,但这些取舍的操作往往比通用的操作更具有现实意义。Upper Page和Lower Page的概念在各个Nand Flash厂商的Datasheet中基本没有提及,Datasheet会给出笼统的program时间,这个操作时间是Lower转载 2020-12-04 16:00:16 · 1158 阅读 · 0 评论