自顶向下和自底向上测试的优缺点

自顶向下测试方法的主要优点是不需要测试驱动程序,能够在测试阶段的早期实现并验证系统的主要功能,而且能在早期发现上层模块的接口错误。
自顶向下测试方法的主要缺点是需要存根程序,可能遇到与此相联系的测试困难,低层关键模块中的错误发现较晚,而且用这种方法在早期不能充分展开人力。
自底向上测试方法的优缺点与上述自顶向下测试方法的优缺点刚好相反
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