Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器,该仪器能够提供高分辨率的相位图,可直接测量高发散光束,光路调整方便等特点。
1. 技术特点
◆高分辨率(高达300 x400个采样点)
◆消色差
◆高动态范围
◆高灵敏度
◆操作简便
◆设计简洁紧凑
◆高性价比
2.技术优势
◆高分辨率的相位图
能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160x120个采样点,最高分辨率可达400x300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差,并能做到较高的测量重复性。
◆具有直接测量高发散光束的能力
我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力,并且无需额外的过渡镜(参见下图)。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差(如数值孔径高达0.75),仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。
SID4波前探测器
测试条件下光路系统
光源
准直镜
◆消色差
SID4探测器能够匹配CCD整个探测范围,用于不同波长光而无需额外校准,也能用于多色光源。
◆对准方便 <