在太阳能单晶的质量指标中,少子寿命是衡量单晶质量的一个主要指标之一。少子寿命的高低是直接决定晶棒是否合格的一个重要因素。许多公司因此往往依据检测出来的少子寿命数据来判断晶棒能否出厂。
我们在这里暂且不说在影响电池片质量的因素中,少子寿命的均匀性和少子寿命的高低那个更加重要。
我们这里就探讨一下检测的方法对检测结果的影响程度。
在许多公司对少子寿命的检测时其实选择的方法都非常简单,大部分的公司都只是在晶棒的端面上裸测并以此作为检测数据来判定晶棒的合格与否。由于晶棒的端面未经过任何处理,充其量也只是在端面上擦一下,这样检测出来的少子寿命数据是不会很准确的。有相当一部分所谓寿命低的晶棒其实并不一定是真正的低。而是因为检测的方法不当而造成了少子寿命低的假象。
下面二张少子寿命的扫描图像是选用同一片测试样品,只是采用的测试方法和处理方法不同其结果就大不一样了。
左边图片是经过酸腐蚀抛光处理后扫描的少子寿命状况&#x