ST微控制器EMC测试指南（二）

电磁发射测试

辐射发射测试

此项测试遵循IEC 61967-2标准，该项测试可以较好地评估应用环境中微控制器发出的辐射噪声。并且考虑了封装的影响，一般而言，在给定的封装系列中，越小的封装产生的噪声越小。

封装产生电磁干扰水平依次为（由高到低）：SOP、QFP、TQFP、FBGA、CSP

在本项测试中，通过将测试板旋转90°，可以沿两个方向测量辐射噪声。

测试说明

基于简单的程序，通过I/O端口切换2个LED。

IEC 61967标准中与测试硬件相关的主要指示如下（参见图1）：

• 100×100 mm板

• 至少两层板（理想情况为4层）

• 两侧的5mm导电边缘接地，用于接触TEM小室

图2所示为微控制器 EMC测试板原理图的典型示例。

图1. IEC 61967-2标准测试电路板规格

图2. STM32 EMC测试板原理图示例

频谱分析仪设置

IEC 61967-1标准描述了频谱分析仪的硬件和软件设置。尽管有这些指示，必须根据测量的信号类型选择分辨率带宽：窄带或宽带。表1中给出了分辨率带宽（RBW）和发射测量频率范围。

表1. 频谱分析仪分辨率带宽和频率范围（宽带EMI）

频率（MHz）	分辨率带宽（RBW）	检波器
0.1-1	10 kHz	峰值
1-10	10 kHz
10-100	10 kHz
100-1000	100 kHz
1000-2000	1 MHz

EMI级别分类

EMI分类基于IEC 61967-2国际标准-附录D-3，如图3所示。此标准描述的特性水平图提供了EMI频谱的级别分类，以2个字母+1个数字的组合来表示。使用此方法，从此图中提取4个典型频谱模式，用于估计ST微控制器测量的EMI级别。图4中描述了这4种分类级别。

图3. IEC 61967-2 EMI分类图表

图4. ST内部EMI级别分类

注：符合2级：1GHz以上无峰值检测，符合1级：500MHz以上无峰值检测

根据ST的经验，定义了每个EMI级别的相关潜在风险：

• 4级以上：高风险

• 4级：可能需要成本来满足EMI合规性

• 3级：中等风险

• 2级：低风险

• 1级：极低风险

表2中给出了EMI测试结果在ST数据手册中的呈现方式。

表2. STM32 EMI测试结果示例

符号	参数	条件	探测的频段	最大值与[fOSC/fCPU]	单位
SEMI	峰值	VDD=3.6，TA=+25℃，BGA216封装， 符合IEC 61976-2	0.1-30MHz	3	dBμV
			30-130MHz	10
			130MHz-1GHz	12
			1-2GHz	7
			EMI级别	3

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