【电子器件检验标准】JEDEC-JS-002

摘要：目前，最新的JS-002标准为2018年版，涵盖的内容包括标准的使用范围、试验目的、试验过程、实验方法和相关注意点。本文主要论述关于JS-002-2018的部分基础内容，包括标准的产生、应用的器件和试验过程的注意事项。

正文：

1. 标准的产生

JS-002-2018中文译名为《用于静电放电的敏感度测试-带电器件模式（CDM）》，由JEDEC和ESDA联合编写，取代了JEDEC之前的JESD22-C101和ANSI/ESD S5.3.1。

CDM是Charged Device Model的首字母缩写，JS-002-2018中对CDM模型给出解释：器件本身带电（例如，器件表面的摩擦起电或者通过电场感应），并在接触导电物体时迅速放电，放电时间仅有几纳秒。CDM是一种金属-金属放电，通过空气击穿电弧产生产生非常快速的电荷转移，达到数十安培的峰值电流。CDM放电模式很难标准量化和再现，在CDM模型中，观察到的MOS器件典型失效机制是介电损伤。

2. 应用的器件

JS-002-2018应用的器件如表1所示，需要注意的是插接式放电模型测试仪不适用JS-002-2018。图1~图5是各种器件的示意图。

表1 JS-002-2018应用的器件