【电子器件检验标准】JEDEC-JS-002

摘要：目前，最新的JS-002标准为2018年版，涵盖的内容包括标准的使用范围、试验目的、试验过程、实验方法和相关注意点。本文主要论述关于JS-002-2018的部分基础内容，包括标准的产生、应用的器件和试验过程的注意事项。

正文：

1. 标准的产生

JS-002-2018中文译名为《用于静电放电的敏感度测试-带电器件模式（CDM）》，由JEDEC和ESDA联合编写，取代了JEDEC之前的JESD22-C101和ANSI/ESD S5.3.1。

CDM是Charged Device Model的首字母缩写，JS-002-2018中对CDM模型给出解释：器件本身带电（例如，器件表面的摩擦起电或者通过电场感应），并在接触导电物体时迅速放电，放电时间仅有几纳秒。CDM是一种金属-金属放电，通过空气击穿电弧产生产生非常快速的电荷转移，达到数十安培的峰值电流。CDM放电模式很难标准量化和再现，在CDM模型中，观察到的MOS器件典型失效机制是介电损伤。

2. 应用的器件

JS-002-2018应用的器件如表1所示，需要注意的是插接式放电模型测试仪不适用JS-002-2018。图1~图5是各种器件的示意图。

表1 JS-002-2018应用的器件

应用的器件	器件特点
半导体器件	以MOS晶体管为主，成本低，应用最广。
表面声波（SAW）器件 SAW：surface acoustic wave	广泛地用于工业和军事装备中。它体积小、结构牢固、频段宽，而且能大批生产。
光电器件	一种将电能转换成光能的器件。它包括发光二极管、发光数字管等。
混合集成电路	混合集成电路具有组装密度大、可靠性高、电性能好等特点。相对于单片集成电路，它设计灵活，工艺方便，便于多品种小批量生产；并且元件参数范围宽、精度高、稳定性好，可以承受较高电压和较大功率。
多芯片模块	实现电子整机小型化、多功能化、高性能和高可靠性。

图1 MOS管

图2 表面声波（SAW）器件

图3 光电器件

图4 混合集成电路

图5 多芯片模块

3. 试验过程的注意事项

CDM是破坏性试验，试验全过程需要进行防静电措施。试验环境可以使用浓度不小于70%的异丙醇进行清洁。测试机台如图6所示。

图6 CDM测试机台（Orion型）

Orion2机型的使用指南可参照Orion2 CDM 操作系统-操作部分20211207

CDM测试机台中的关键部件是探针，是探测带电器件放电的关键，如图6所示。根据JS-002-2018，探针试验时的湿度不应大于30% RH，这是由于湿度越低，探测的放电过程越明显。CDM的试验温度应为室温。器件每个引脚或锡球，至少需要进行1次正极放电和1次负极放电，两次放电的时间应该足够长。较长的放电间隔不会导致器件的过分充电，只会增加试验时间。

在进行CDM后，应对器件进行静态测试和动态测试。如果测试的参数与委托方的参考数据表中的数据不一致，应认为失效。如果证明失效不是由于CDM引起的，可以排除失效。

需要说明的是，静态测试的方法主要是引脚漏电和检测待机电流等，静态测试不能直接说明器件失效，但可以作为辅助说明验证器件失效。

如果需要补充测试，可以在依次按照低温（-40℃）、常温（25℃）和高温（85℃）进行测试。

总结：CDM是一种常见的ESD试验，随着电子器件技术水平的上升，检验过程中的CDM试验变得尤为重要。

参考文献：

[1] 表1中的“器件应用场景”参照百度词条进行整理。

[2] 图1~图6图片来自百度图片进行整理。