三坐标测量机（CMM）测头初步了解

测头主要分为接触式测头和非接触式测头

接触式测头

需要和被测表面发生实体接触的探测系统。

又分为点触发测头和接触式扫描测头。

点触发测头使用居多，点触发测头，又有手动（带刻度，可重复定位和直角测头）半自动，全自动，五轴测头几种，价格也差距很大。

接触式扫描测头，主要是用于需大量采点的检测。是指测头一直贴附在工件表面扫描测量。

非接触式测头

不需要和被测表面发生实体接触的探测系统

非接触式测头主要指激光和影像测头，也可跟接触式测头一同配置，成为复合式三坐标；

激光测头，主要用于实现较软材料或一些特征表面进行非接触测量，测头在距离检测工件一定距离（比如50mm），在其聚焦点5mm范围内进行测量，采点速率在200点/秒以上。通过对大量采集数据的平均处理功能而获得较高的精度。逆向工程的点云提供，采点量大，每秒上万点，但精度相对较触发式的低。

影像测头则用于软体类测量和测针无法取点的电子板之类的工件检测，进一步提高了测量机的应用，使得许多过去采用非接触测量无法完成的任务得以完成。一些诸如印刷线路板、触发器、垫片或直径小于0.1mm的孔可采用视频测头进行测量。操作者可将检测工件表面放大50倍以上，采用标准的或可变换的镜头实现对细小工件的测量。另外影像也用于视觉类大批量检测。