【SI量测技巧总结---低速】

一、量测问题注意

1.1 分辨率设置

1.2 具体分析——power leakage/high/low voltage test

通常使用 Astris reset 或者shutdown 抓所有数据；尽量不要使用 cold boot 和 SPF 的数据；

因为这时候板子没有上电，它的低电平实际上是飘着的，而不是有什么期间把信号拉低。

1.3 具体分析——电压位置cursor

在测某个时间点或者某段时间的电压时，线条比较粗的，水平cursor一般放在线条正中间；

如果觉得正中间不好找，像右图把上下界卡出来也可以，但填表的时候填一下它的平均值 (-32 + 28) / 2 = -2mV 这样。不要测到 -32～+28mV 填 +32mV

1.4 具体分析——setup/hold time

SOC以及Retimer的SPI/QSPI，mode 0时MISO的setup和hold time需要参考CLK下降沿。
所有连到SOC的SPI/QSPI
MISO——setup/hold time参考CLK下降沿
MOSI——setup/hold time参考CLK上降沿

1.5 具体分析——晶振

晶振在测试频率后再Rework，测试时长需要大于20s/次数大约上千次；
信号频率KHz量级用歪头探头，MHz用AEE Yuan Wang Probe；

晶振测试小板：