IV curve

IV curve

VI特性曲线

• 任何一个二端元件的特性可用该元件上的端电压U与通过该元件的电流I之间的函数关系I=f
  (V)来表示，即用I-V平面上的一条曲线来表征，这条曲线称为该元件的伏安特性曲线。
• 线性电阻器的伏安特性曲线是一条通过坐标原点的直线，如图1-1中a所示，该直线的斜率等于该电阻器的电阻值。
• 一般的白炽灯在工作时灯丝处于高温状态时，其灯丝电阻随着温度的升高而增大，通过白炽灯的电流越大，其温度越高，阻值也越大，一般灯泡的“冷电阻”与“热电阻”的阻值可相差几倍至十几倍，所以它的伏安特性如图1-1中b曲线所示。
• 一般的半导体二极管是一个非线性电阻元件，其特性如图1-1中c曲线。正向压降很小（一般的锗管约为0。2～0。3，硅管约为0。5～0。7V)，正向电流随正向压降的升高而急骤上升，而反向电压从零一直增加到十多至几十伏时，其反向电流增加很小，粗略地可视为零。可见，二极管具有单向导电性，但反向电压加得过高，超过管子的极限值，则会导致管子击穿损坏。
• 稳压二极管是一种特殊的半导体二极管，其正向特性与普通二极管类似，但其反向特性较特别，如图1-1中d曲线。在反向电压开始增加时，其反向电流几乎为零，但当电压增加到某一数值时(称为管子的稳压值，有各种不同稳压值的稳压管)电流将突然增加，以后它的端电压将维持恒定，不再随外加的反向电压升高而增大。
  

VI曲线测试仪原理

• VI曲线测试原理是由测试仪产生一个交变信号加到被测点上记录交边电压和交边电流 在负载上的变化在计算机屏幕上显示出来。
  具体讲就是在不加电的情况下在被测器件的管脚与地或其他管脚组成的端口之间施加
  一个交变的扫描信号该端口就相应产生一个阻抗变化把端口产生的阻抗变化在计算机
  上显示出来，常用VI曲线测试仪来判断元器件(特别芯片)各个管脚的状态，与好的元 器件对比初步判断这个元器件的功能是否OK。自动识别不稳定曲线、自动选择高灵敏度曲线、不同管脚可设置不同测试参数、动态参 考脚等，提高 ASA 的测试能力，降低误判。
  
• 能量消耗与面积：VI曲线包围的面积反映了电路在给定频率下的能量消耗。面积越大，说明电路在该频率下消耗的能量越多。因此，选择使曲线面积最大的频率有助于我们找到电路在哪些频率下具有较大的能量消耗，从而可能揭示出电路的一些关键特性。
• 响应特性与形状：VI曲线的形状可以提供关于电路响应特性的信息。如果曲线接近圆形，说明电路在该频率下的阻抗接近纯阻性，即电容和电感的贡献相对较小。这有助于我们识别出电路的谐振点或其他关键频率点。

DIODE test

用万用表的二极管(DIODE)档测试器件管脚，是常用测试之一。它能有效弥补 ASA 测 试较大电容、电感节点时的不足。CFT 的 DIODE 测试与万用表二极管档的测试原理相同。

DC voltage test

• 尤其在检测模拟电路的时候，用万用表的直流电压档检测节点的直流电压，是有效测试
  之一。这是因为模拟电路通常都有固定的“直流工作点”，直流工作点的变化往往意味着故
  障。由于该测试要求给被测试对象加电，所以能够弥补不加电测试的不足。
• CFT 的 DCV 测试与万用表的直流电压测试的原理相同。
• 维修电路板常常会需要确定一下电路节点上有没有信号，并不需要仔细观察电压波形。 这项检测通常用示波器完成。CFT 的 ACV
  测试原理与示波器相同。