芯片测试

问题描述

  有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
  每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
  给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。

输入格式

  输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
  第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。

输出格式

  按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号


import java.util.Scanner;

public class 芯片测试 {

	public static void main(String[] args) {
		// TODO Auto-generated method stub
		Scanner scanner = new Scanner(System.in);
		int n = scanner.nextInt();
		int[][] a = new int[n][n];
		for(int i = 0 ; i< n;i++){
			for(int j = 0 ; j<n;j++){
				a[i][j] = scanner.nextInt();
			}
		}
		for(int i =0; i<n;i++){
			int count =0;
			for(int j = 0 ; j< n;j++){
				count+=a[j][i];
				
			}
			if(count>n/2){
				System.out.println((i+1)+" ");
			}
		}
	}

}




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