芯片测试

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

import java.util.Scanner;

public class 芯片测试 {

	public static void main(String[] args) {
		// TODO Auto-generated method stub
		Scanner scanner = new Scanner(System.in);
		int n = scanner.nextInt();
		int[][] a = new int[n][n];
		for(int i = 0 ; i< n;i++){
			for(int j = 0 ; j<n;j++){
				a[i][j] = scanner.nextInt();
			}
		}
		for(int i =0; i<n;i++){
			int count =0;
			for(int j = 0 ; j< n;j++){
				count+=a[j][i];
				
			}
			if(count>n/2){
				System.out.println((i+1)+" ");
			}
		}
	}

}