硬件PCB开发生命周期

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分类专栏：嵌入式硬件文章标签：嵌入式硬件

于 2023-11-24 01:10:26 首次发布

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本文详细阐述了电子产品开发中的三个重要验证阶段：EVT关注基本功能和设计验证，包括电源和信号完整性测试；DVT阶段侧重于成熟版本的全面测试，涵盖用户体验、性能、兼容性和合规性；PVT阶段涉及生产线一致性、批量生产前确认和长期稳定性测试。

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简介

硬件开发生命周期（Hardware Development Life Cycle, HDLC）是用于设计、开发、测试、部署和维护硬件产品的一系列阶段。

需求收集与分析（Requirements Gathering and Analysis）：

确定用户需求和硬件需求。

系统设计（System Design）：

定义硬件的架构、组件和接口。

详细设计（Detailed Design）：

进一步细化设计，包括电路图、PCB布局、材料选择和制造工艺。

原型开发（Prototyping）：

制作硬件原型，用于测试和验证设计。

测试与验证（Testing and Verification）：

对原型进行测试，确保其满足性能、安全和可靠性要求。

设计迭代（Design Iteration）：

根据测试结果进行设计修改和优化。

EVT（工程验证测试）阶段：确保基本功能和设计是否符合预期

基本功能测试：确认产品的基本功能是否能够正常工作。

初步系统集成测试：检查各部件之间的互联性和兼容性。

电源和信号完整性测试：确保电源和信号传输的稳定性和完整性。
电源测试：（一般采样厂商成熟方案就不需要测试了）
1.输出电压测试：检查电源输出是否符合设计要求，并确保输出电压在合适的范围内，稳定且准确。
工具：数字万用表、专业的电压表
2.纹波和噪声测试：确保输出的电压是稳定的，没有过多的纹波和噪声，保证电源提供的电压是干净、稳定的。
工具：示波器、频谱分析仪
3.负载调节测试：测试电源在不同负载情况下是否能够保持输出电压稳定，并且在负载变化时的响应速度。
方法：将负载电阻与电源连接，并根据测试需求设置不同的负载条件，例如轻载、额定负载、满载等。确保负载的变化是渐进的，而不是突然的，以避免对电源和设备造成损害。
工具：负载电阻、示波器
4.效率测试：测量电源的效率，即输入电能和输出电能之间的转换效率。
5.过载和短路保护测试：模拟电源的过载或短路情况，测试电源是否能够正确响应并启动保护机制，避免电源损坏或安全问题。
过载模拟：使用负载电阻器或者负载模块，将超出电源额定容量的负载连接到电源输出端。逐步增加负载，超出电源所能承受的负载范围，模拟电源过载情况。
短路模拟：使用导线或者专门的短路模块，将电源的正负输出端短接在一起，模拟电源的短路情况。这会导致电源输出瞬间产生极低的电阻，模拟电源面临短路的情况。
6.温度测试：在负载条件下监测电源模块的工作温度，确保在正常负载下温度处于合理范围内，避免过热问题。

信号完整性测试：（包括时钟信号和协议信号。高速电路在工作时具有更快的信号变化速率和更短的信号周期，因此更容易受到外部干扰或噪声的影响）
1.时钟信号测试：评估时钟信号的稳定性和准确性，确保其在传输过程中不受干扰或失真。
工具：示波器、频谱分析仪
2.信号衰减和延迟测试：测试信号在传输过程中的衰减情况以及延迟程度，确保在传输路径上不会出现过多的信号衰减或延迟过大。
3.串扰测试：检测不同信号通道之间的串扰情况，即一个信号通道的变化对其他信号通道的影响，以避免干扰。
方法：在一个信号通道中发送测试信号，使用工具监测其他信号通道中的信号，观察和记录其他通道中是否出现了不应该存在的信号。
工具：示波器、串扰分析仪
4.噪声测试：评估传输路径中存在的噪声水平，确保信号不会被噪声影响而失真。
工具：示波器、频谱分析仪
5.阻抗匹配测试：检验传输线路的阻抗匹配情况，确保信号在传输时阻抗匹配良好，减少信号反射和损失。
6.回波测试：检测信号传输中的回波情况，避免信号反射和干扰。

初步的稳定性和可靠性测试：评估产品在特定条件下的稳定性。