蓝桥杯基础题——芯片测试

该博客介绍了蓝桥杯竞赛中的一道基础题,涉及芯片测试问题。当好芯片测试其他芯片时,结果准确;坏芯片则随机给出结果。题目要求根据所有测试结果找出好芯片。输入为芯片数量及测试矩阵,输出是好芯片的编号。博主分享了一个简单的解决方案,通过统计每个芯片被测试的结果,如果好芯片多于坏芯片,则该芯片为好芯片。
摘要由CSDN通过智能技术生成

题目描述
  有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多
  每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
  给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。

输入
  输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
  第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

附上代码:
第j列就是j被n个芯片检测的结果,好的比坏的多,所以比较0多还是1多即可。

public class Basic_23 {
   

	public static void main(String[] args) 
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