总结我的验证思路：“开门红” Test Case

本文转自公众号“数字芯片实验室”，作者：夏晶 。谢谢

根据规格分解FeatureList，根据FeatureList对应TC，然后再一条一条仿真TC反过来映射FeatureList和规格。没错，这是最通常的做法，可惜我不这样做。

 

世间有80：20原则，验证也是，80%的问题都可以通过20%的测试和时间去发现和解决，而剩余20%的问题需要80%的测试和时间去解决。

 

所以，按照我的思路，会有几个最初级的TC，可以用来测试最基本的通路能否冒烟，这几条TC，可以划归到TCList中，也可以不划归。然后，一定有一条开门的TC，这是一条复杂的Directed TC，一条可以覆盖70%的Feature的TC。

 

这条TC并不负责任何Corner、异常覆盖，不做任何特殊的思考，一切都是直接对Feature的连续描述（也可以是若干条TC的直接串联），因此即使有些许问题，修改的难度也比较低。

 

这条TC能够帮助设计人员定位超过70%的问题，如果设计人员足够聪明，这个TC可以解决90%的问题。

 

这条TC的寿命可能将超过一个月，这一个月足够设计人员在其中沉沉浮浮，使得代码达到95%的交付情况。而验证人员在这一个月中，有足够的时间完善Corner的TC、Random的TC和环境，然后集中精力完成剩下10%问题的解决。