CST微波工作室学习笔记—10.数据后处理

CST微波工作室_数据后处理

1.仿真分析结果
  • 直角坐标系下的 S 参数结果
  • 史密斯圆图中显示的 S 参数结果
  • 端口模式和相关参数(传播参数、阻抗等)
  • 各种场分布(电场、磁场、功率流和表面电流)
  • 动态显示场分布
  • 辐射、散射问题的运区场分布(天线方向图、增益、方向性系数、RCS)
2.数据后处理
  • 通过模板导出仿真分析结果,用于优化目标的定义
  • 导出Touchstone 格式的 S 参数分析结果
  • 导出ASCII 格式的场分析结果
  • 导出近区场、远区场分析结果用作其他设计的场源激励
3.场监视器

在这里插入图片描述
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4.查看分析结果

在这里插入图片描述
Excitation Signal: 查看激励信号,时域求解器有效

Field Monitor: 定义场监视器

1D Results: Port Signals——查看端口时域信号,S-Parameters——S参数,Reference Impedance——端口阻抗

2D/3D Results: Port Modes——端口模式和场分布,E-Fields——与定义的场监视器相关,查看预定义的场分布

Farfields: 查看远区场分析结果,如天线方向图,RCS等

5. 1D Results 显示

- 多种显示格式

  • 直角坐标系、史密斯圆图、极坐标
  • 实部、虚部、相位、幅度
  • 线性、对数、设置标记点
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6. 2D/3D Results 显示

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7. Farfield显示

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8. 数据后处理模板
  • 对结果数据进一步的处理,并且在导航树下显示给出处理后的结果
  • 优化设计时,通过该方式可以方便的定义目标函数
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9. 分析结果的导入和导出

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