[蓝桥杯][基础训练]芯片测试

问题描述

Description
有n（2 ≤ n ≤ 20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。
而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
Input
输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。
表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1 ≤ i, j ≤ n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
Output
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号。
Sample Input
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
Sample Output
1 3

问题思路

这道题要自己想可还真想不出这样简单的算法
题目里的一个重要条件就是：好的零件数量大于坏的零件数量
所有我们看其他零件对该零件的评价，假如一个61个零件，实际好零件为31个坏零件为30个，假如当前零件为好零件那么，说这个零件是好零件的数量至少为30个.如果当前零件是坏零件的话，那么说这个零件的坏零件的至少31个。那么我们可以这样判断如果说这个零件是好零件的>=说他是坏零件，那么他是好零件，否则他是坏零件

完整代码

#include <iostream>
#include <cstring>
using namespace std;

int main()
{
    int n;
    int data[25][25];
    int ans_data[20];
    int head = 0;
    memset(ans_data,0,sizeof(ans_data));
    cin >> n;
    for (int i = 0; i < n; i++) {
        for (int j = 0; j < n; j++) {
            cin >> data[i][j];
        }
    }
    // --------------------- 数据的输入 ---------------
    for (int i = 0; i < n; i++) {
        int ans = 0;
        for (int j = 0; j < n; j++) {
            if(i ==j) continue;
            if(data[j][i] == 1) ans++;
            else ans--;
        }
        if(ans >= 0 ){
            ans_data[head++] = (i+1);
        }
    }
    printf("%d",ans_data[0]);
    for (int i = 1; i < head; i++) {
        printf(" %d",ans_data[i]);
    }
    printf("\n");
    return 0;
}