功耗正成为电路设计中越来越重要的一个方面。本章在以下各节介绍了降低功耗的策略:
- 功耗挑战的增加
- 动态功耗与静态功耗
- 降低功耗的方法
- IEEE 1801 标准(UPF)
功耗挑战的增加
CMOS 的器件密度和时钟频率已大幅提高,从而增加了功耗。同时,供电电压和晶体管阈值电压的降低导致漏电流变得显著。
高功耗可能导致运行期间产生过高的温度,由于电迁移和其他与热相关的故障机制,降低了可靠性。高功耗还减少了便携设备的电池寿命。
功耗正成为电路设计中越来越重要的一个方面。本章在以下各节介绍了降低功耗的策略:
- 功耗挑战的增加
- 动态功耗与静态功耗
- 降低功耗的方法
- IEEE 1801 标准(UPF)
CMOS 的器件密度和时钟频率已大幅提高,从而增加了功耗。同时,供电电压和晶体管阈值电压的降低导致漏电流变得显著。
高功耗可能导致运行期间产生过高的温度,由于电迁移和其他与热相关的故障机制,降低了可靠性。高功耗还减少了便携设备的电池寿命。