题目描述
标题:测试次数
x星球的居民脾气不太好,但好在他们生气的时候唯一的异常举动是:摔手机。
各大厂商也就纷纷推出各种耐摔型手机。x星球的质监局规定了手机必须经过耐摔测试,并且评定出一个耐摔指数来,之后才允许上市流通。
x星球有很多高耸入云的高塔,刚好可以用来做耐摔测试。塔的每一层高度都是一样的,与地球上稍有不同的是,他们的第一层不是地面,而是相当于我们的2楼。
如果手机从第7层扔下去没摔坏,但第8层摔坏了,则手机耐摔指数=7。
特别地,如果手机从第1层扔下去就坏了,则耐摔指数=0。
如果到了塔的最高层第n层扔没摔坏,则耐摔指数=n
为了减少测试次数,从每个厂家抽样3部手机参加测试。
某次测试的塔高为1000层,如果我们总是采用最佳策略,在最坏的运气下最多需要测试多少次才能确定手机的耐摔指数呢?
请填写这个最多测试次数。
注意:需要填写的是一个整数,不要填写任何多余内容。
这个题的整体解题思路,Alex 007在《彻底掌握动态规划》
一文里详细的讲解过(附有讲解视频)
如果有N个手机,T层楼,求出最坏的情况经过多少次测试能找大临界楼层。
即求一个函数:
M(T,N)=?
如果楼层T为1,那么测试次数一定为1;
如果手机个数为一,那么最坏情况一定要测试T次;
下面分析其他情况:
假设第一次扔手机在第k层,而临界楼层在1~k层之间,接下来的问题就变成了在1~k层之间用N-1个手机测试:
M(k-1,N-1)=?
如果A手机在第K层没碎,接下来的问题,就变成了k+1~T层之间,用N个手机的测试
M(T-k,N)=?
我们的目标是求出最坏恶毒情况,因此需要对者两种情况取最大值,同时还要加上第一次测试的次数:
Mk(T,N)=1+max{Mk(k−1,N−1),Mk(T−k,N)}
k的范围是 1<=k<=T,可以通过循环来计算,我们是想求最优情况下扔多少次手机才能找到临界楼层,因此可以列出下式:
M(T,N)=min{M 1(T,N),M2(T,N),M3 (T,N),…,M k(T,N),…,MT(T,N)}
code
#include<iostream>
using namespace std;
int main(){
int p=3,f=1000;
int dp[1001][4];
for(int t=0;t<f;t++)
dp[t][0]=t+1;
for(int n=0; n < p; n++)
dp[0][n]=1;
for(int t=1;t<f;t++){
for(int n=1;n<p;n++){
//k是第一次从k层摔
int num=100000;
for(int k=1;k<=t;k++){
num=min(num,1+max(dp[k-1][n-1],dp[t-k-1][n]));
}
dp[t][n]=num;
}
}
cout<<dp[999][2];
}