问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
代码
#include <bits/stdc++.h>
using namespace std;
int x[25][25];
int main()
{
int n;
cin>>n;
int y[25];
for(int i=0; i<25; i++)
y[i]=1;
for(int i=0; i<n; i++)
for(int j=0; j<n; j++)
cin>>x[i][j];
for(int i=0; i<n; i++)
{
int f=1;
for(int j=0; j<n; j++)
{
if(x[i][j]==1&&i!=j)
{
f=0;
if(x[j][i]!=1)
{
y[i]=0;
break;
}
}
}
if(f==1)
y[i]=0;
}
for(int i=0; i<n; i++)
{
if(y[i]==1)
cout<<i+1<<" ";
}
return 0;
}