半导体测试概论笔记——第一章电子学的基本概念

第一节：基本概念复习

电压：两点之间的电位差，单位电荷消耗或吸收的能量

V=E/Q      (E:电能   Q:电荷量）

电流：单位时间流经的电荷量

I=Q/T        (T:单位时间）

电阻：阻止电流在物体中流动的计量，与温度有关

R=ρL/A(电阻系数*两截面间的距离/截面积）

欧姆定律：V=I*R

第二节：基本测量方法

测量电阻的两种方法：VFIM(Voltage Force Current Measure)

                                    IFVM(Current Force Voltage Measure)

集成电路在设计上，有两种被广泛使用的技术TTL和CMOS,

TTL 执行速度快，但消耗能量較高，不过是固定的能量消耗。CMOS 的能量消耗与其频率有关。较高的工作频率，会有較多的能量消耗。目前而言，CMOS 应用更为广泛

第三节：基本数位逻辑门

1.非门（反向器）

2.与门

3.与非门

4.或门

5.或非门

6.D触发器：在时钟上升沿检测输入信号，若输入信号为0，输出信号则为0...