计算机组成原理实验（2） 通用寄存器单元实验

实验二  通用寄存器单元实验

一、 实验目的

1. 了解通用寄存器的组成和硬件电路，利用通用寄存器实现数据的置数、左移、右移等功能。

2. 按照实验步骤完成实验项目， 实现通用寄存器移位操作。了解通用寄存器单元的工作原理运用。

二、实验内容

1、数据输入通用寄存器

2、寄存器内容无进位位左移实验

3、寄存器内容无进位位右移实验

三、实验步骤和结果

实验一：数据输入通用寄存器

● 把RA-IN（8芯的盒型插座）与右板上二进制开关单元中的J01插座相连(对应二进制开关H16~H23)，把RA-OUT（8芯的盒型插座）与数据总线上的DJ6相连。

● 把RACK连到脉冲单元的PLS1，把ERA、X0、X1、RA-O、M接入二进制拨动开关。（请按下表接线）。

控制信号	接入开关位号
RACK	PLS1  孔
X0	H12   孔
X1	H11  孔
ERA	H10  孔
RA-O	H9  孔
M	H4  孔

接线图示：

● 二进制开关H16~H23作为数据输入，置42H（对应开关如下表）。

H23	H22	H21	H20	H19	H18	H17	H16	数据总线值
D7	D6	D5	D4	D3	D2	D1	D0	8位数据
0	1	0	0	0	0	1	0	42H

置各控制信号如下：

H12	H11	H10	H9	H4
X0	X1	ERA	RA-O	M
1	1	0	0	1

● 按启停单元中的运行按钮，置实验平台为运行状态。

● 按脉冲单元中的PLS1脉冲按键，在RACK上产生一个上升沿，把42H打入通用寄存器。

●此时数据总线上的指示灯IDB0~IDB7 应该显示为42H。由于通用寄存器内容不为0，所以LED（ZD）灯灭。

实验结果如图所示：

实验二：寄存器内容无进位位左移实验

● 按照实验1数据输入的方法把数据42H打入通用寄存器中，数据总线上显示42H。实现左移功能，置各控制信号如下：

H12	H11	H10	H9	H4
X0	X1	ERA	RA-O	M
0	1	0	0	1

● 按启停单元中的运行按钮，置实验平台为运行状态。

● 按脉冲单元中的PLS1脉冲按键，在RACK上产生一个上升沿，使通用寄存器中的值左移。实验结果如图所示：

● 此时数据总线上的LED指示灯IDB0~IDB7 应该显示为84H。由于通用寄存器内容不为0，所以ZD（LED）灯灭。

实验结果如图所示：

● 按脉冲单元中的PLS1脉冲按键，使通用寄存器中的值左移，此时数据总线上的LED指示灯IDB0~IDB7应该显示为09H。若一直按PLS1，在总线上将看见数据循环左移的现象。

继续测试两组数据如下：

实验三：寄存器内容无进位位右移实验

● 按照实验1数据输入的方法把数据42H打入通用寄存器中，数据总线上显示42H。实现右移功能，置各控制信号如下：

H12	H11	H10	H9	H4
X0	X1	ERA	RA-O	M
1	0	0	0	1

● 按启停单元中的运行按钮，置实验平台为运行状态。

● 按脉冲单元中的PLS1脉冲按键，在RACK上产生一个上升沿，使通用寄存器中的值右移。

● 此时数据总线上的LED指示灯IDB0~IDB7 应该显示为21H。由于通用寄存器内容不为0，所以ZD（LED）灯灭。

实验结果如图所示：

● 按脉冲单元中的PLS1脉冲按键，使通用寄存器中的值右移，此时数据总线上的LED指示灯IDB0~IDB7应该显示为90H。若一直按PLS1，在总线上将看见数据循环左移的现象。

继续测试两组数据如下：

附：通用寄存器的逻辑

通用寄存器（8位并入并出移位寄存器）

CLR	X1   X0	CLK	SL  SR	QA~AH
0	X    X	X	X   X	全 0
1	X    X	0	X   X	保持不变
1	1     1	上升沿	X   X	并行接数A~H
1	0     1	上升沿	X   0	右移 移入0
1	0     1	上升沿	X   1	右移 移入1
1	1     0	上升沿	0   X	左移 移入0
1	1     0	上升沿	1   X	左移 移入1

四、实验总结

● 实验原理

        本次实验围绕通用寄存器的基本操作，包括数据输入、无进位左移和右移操作展开。通用寄存器是一个8位并行输入输出的移位寄存器，通过控制不同的输入信号（如CLR、X0、X1、CLK、SL和SR），可以实现数据的并行置入和移出。实验中，数据首先通过二进制开关输入寄存器，然后通过脉冲信号对寄存器进行左移和右移操作。每次操作都会改变寄存器中的数据状态，并在数据总线上反映出相应的结果。

● 实验结果分析

1. 数据输入实验：成功将42H（00101010）输入通用寄存器，数据总线证实了输入的正确性，LED指示灯工作正常。

2. 左移操作实验：当进行左移操作时，数据42H经过一次左移变为84H（10000100），再进行第二次左移得到了09H（00001001），证实了寄存器的循环左移功能。数据在总线上的动态变化表明左移操作有效。

3. 右移操作实验：右移实验中，从42H开始，经过一次右移变为21H（00100001），进一步的右移操作得到了90H（10010000），同样展示了寄存器的循环右移功能。这一过程再次验证了寄存器的操作准确性。

● 个人感悟

        通过本次实验，加深了对通用寄存器硬件原理的理解，特别是移位操作的实现方法。实验不仅仿真了理论知识，还提升了动手能力和人机交互的理解能力。在实际操作中，观察到数据如何通过控制信号进行状态转变，进一步认识到电子器件在计算机系统中的重要性。这种操作的实时反馈也让我意识到了调试过程中的细致与耐心，今后在类似实验中应更加关注信号连接与控制逻辑的准确性。总的来说，这次实验是一次理论与实践相结合的良好体验。