引言
DFT是Design For Tesability（可测试性设计）的简称。是设计人员在进行系统和电路设计的同时，考虑测试的需求，通过在芯片中增加一些测试电路从而简化测试过程。是一种为达到故障检测目的所进行的辅助性设计方法，使制作完成后的芯片能达到“可控制性”和“可测试性”两个目的。
目前较流行的DFT设计方法包括内部扫描通路测试（Scan）、内建自测试（BIST
本文深入探讨了FPGA的可测试性设计（DFT），包括内部扫描测试（SCAN）、内建自测试（BIST）和边界扫描测试（BSD）。SCAN通过插入扫描链来检测和减少测试成本；BIST主要用于内存内建自测，提高测试效率；BSD通过边界扫描解决芯片间互连测试。常用的DFT工具如DFT Compiler、mBISTArchit和BSDArchit等在RTL设计阶段就可介入，提高设计的可测试性。
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