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SHKC
这个作者很懒,什么都没留下…
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Tetramax debug
调试At Speed SCAN的faluts的方法: 需要的文件 1. 经过了run_drc之后的image文件 2. faults list(带str/stf的)过程: 1. 读取image文件 2. set_faults -model transition 3. 读取faults list 4. 分析要cover的falut point(analyze_falut -slow r原创 2017-01-23 23:45:25 · 1446 阅读 · 0 评论 -
ATPG之STIL格式说明
ATPG之STIL格式说明 ATPG之STILSTIL test protocol file(.SPF)转自: http://www.blogbus.com/bb2hh-logs/60233278.htmlAuthor:pythonlongstil文件是atpg的基础,用好atpg工具当然要熟悉stil格式。下面是基本说明:)转载 2017-05-30 09:27:49 · 14803 阅读 · 3 评论 -
“火山论剑”之奔跑吧SCAN - 浅谈DC/AC SCAN测试
“火山论剑”之奔跑吧SCAN - 浅谈DC/AC SCAN测试2015-07-08 KevinHe BriteASICSMIC-ASIC原创,转载请注明SCAN技术,也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是:产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX;插入scan chain主要使用s转载 2017-05-30 09:34:33 · 4906 阅读 · 0 评论 -
带你秒懂STIL文件
带你秒懂STIL文件2017-05-04 芯司机 STIL?这是什么鬼?我为什么要谈这玩意儿?相信很多工程师,特别是刚入行或准备入行的兄弟们或多或少听过测试相关的东西。如果你想做DFT工程师的,测试工程师的,而对于设计/验证工程师们如果能了解下这个玩意儿,在和DFT/测试工程师聊技术聊测试pattern的时候就不会一脸懵逼了。好了,言归正传。ST转载 2017-05-30 11:55:28 · 8490 阅读 · 2 评论 -
ATPG之debug
ATPG之debug转自:http://www.blogbus.com/bb2hh-logs/60237492.html Author:pythonlong以下根据资料和个人体会整理,如果错误,疑问欢迎请指正,讨论!!ATPG debug要熟悉TetraMAX工具的一些功能。STIL文件中定义的各种procedure与dft测试原理的对照。转载 2017-05-30 11:59:31 · 6779 阅读 · 1 评论 -
芯片测试太耗时?新一代TetraMAX II工具将运行速度提高一个数量级
芯片测试太耗时?新一代TetraMAX II工具将运行速度提高一个数量级2016年7月20日Franklin ZhaoTetraMAX II将运行速度提高一个数量级,确保在初步硅晶样品首次用于测试时将向量准备就绪。此外,TetraMAX II生成的向量数量减少25%,使IC设计团队能够缩短测试硅片的时间并减低成本,而且还能应汽车等特殊市场转载 2017-05-30 12:04:40 · 1895 阅读 · 0 评论 -
csh和tcsh
csh和tcshEDACAD我们都知道IC设计中,经常试用C Shell或者tcsh,那么这两个直接到底有什么差别呢?首先,我们登陆Linux系统查看# which tcsh/usr/bin/tcsh# which csh/usr/bin/csh# ls -al /usr/bin/cshlrwxrwxrwx 1转载 2017-05-30 12:12:32 · 5284 阅读 · 1 评论 -
Translating Compressed Scan Patterns to Standard Scan Mode Patterns.
Translating Compressed Scan Patterns to Standard Scan Mode Patterns.You can use the TetraMAX tool to convert compressed scan mode patterns to standard scan mode patterns.The translation is performed by原创 2017-06-01 23:14:20 · 864 阅读 · 0 评论