数字IC后端
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Ernest_Z_M
DFT抓头狂魔
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Mbist Test Basic
Tessent mbist 测试原理和架构原创 2024-07-17 10:27:11 · 904 阅读 · 0 评论 -
Scan test point
设计中包含许多难以控制和观察的点,通过在这些位置添加一些特殊测试电路,可以达到不影响原有电路的功能,使该点变得可观测或者可控制,提高电路的可测试性,这种特殊的测试电路被叫做test point。原创 2024-07-16 17:31:58 · 1018 阅读 · 0 评论 -
数字IC后端物理实现流程1-环境建立
数字IC后端物理实现概述实现工具TYPICAL FLOWENVIRONMENT SETUP概述本篇文章仅供入门参考和个人的一些浅薄见解,不做任何问题上的深入讲解,因为本人也是一名初学者。实现工具主流工具:Cadence Innovus/Synopsys ICC&ICC2TYPICAL FLOW自动布局布线流程主要分为:读入设计、布局、标准单元布局优化、时钟树综合、时钟树综合后优化、布局布线、布线优化以及验收。实际项目中,为了达到最终的验收目的,中间的流程需要反复迭代,并不能一步到位,比原创 2020-11-26 17:21:42 · 8176 阅读 · 1 评论