wrapper chain

芯片的规模大小决定了DFT的架构，对于小芯片而言，我们可以把一整个芯片独立测试，甚至都不需要对其内部的chain进行压缩，而对于大芯片而言，如果把一整个芯片当作测试对象，那么无论是对于工具开发商而言还是对于测试时间而言，都是一个巨大的挑战。甚至在很多时候，由于pad的限制，我们无法做到同时测试整颗芯片的所有模块。所以就需要把芯片分为多个部分来测试，利用herical来分割芯片，分别对分割出来的部分做DFT，这样就把一整颗芯片分割成了多个小的部分，对于intenal test而言，我们可以分别对分割出来的不同部分进行测试，同时也可以将分割出来的不同部分进行自由组合来同时测试，这样不仅加大了测试的自由度，也解决了整个芯片一起测试比较困难的问题，对于external test 而言，我们只需要在顶层生成external test pattern 即可。

而要实现这些不同部分的独立测试，我们需要对这些不同的core 进行隔离，防止测试过程中input边界引入X态到core 内部，污染测试数据，同时也需要在output 边界capture到内部的测试数据进行比较，在external mode下，我们是需要测试两个独立core之间的组合逻辑，这样我们就需要对一个core的output 边界赋值，另一个core的input 边界需要采值。

下面首先简单介绍一下什么是wrapper cell

wrapper cell我们分为dedicate wrapper cell 和share wrapper cell

dedicate wrapper cell

share wrapper cell

share wrapper cell 为原来design中存在的scan cell。

那么工具处理这两类的wrapper cell的时候，会去识别时input wrapper cell 还是output wrapper cell，根据设定可以加invert_hold 或者不加。还可以指定dedicated wrapper cell的时钟等等。

那么在design 中wrapper chain 可以只有一条或者多条。

下面举个简单的例子介绍wrapper chain的工作场景。

internal test：

在做internal test时，input wrapper cell 在capture 阶段会会采自己的值来阻止外部输入，output wrapper cell会capture 内部core的输出值。

external test:

external mode下相反，external mode下需要测两个core之间的组合逻辑，所以这个时候前面一个core的output wrapper chain用来赋值，达到可控制性，在capture 阶段采自己的值用来屏蔽core的输出，后面一个core的input wrapper chain 用来采通过中间组合逻辑后的值达到可观测性。

那么在做wrapper chain的时候可能需要处理的问题有：

1：我们需要设置逻辑深度，告诉工具trace逻辑深度到多少级还没找到一个寄存器的话就插入一个dedicated wrapper cell，这个会影响到插入wrapper cell的数量，和internal coverage。

2：对于output wrapper cell 工具会将scan_en 和ext_en信号or gate 后接到各个output wrapper cell，这样如果对于rst 做了hold scan cell 且加了inv_hold的话，且这个寄存器被当作了out put share wrapper cell， 就会存在如下结构。

这样，在ext mode下这个寄存器会一直翻转，导致后面的寄存器被复位，所以需要将这个寄存器的SE 直接接到scan_enable上。

3：时序问题，如果不采用hold mux结构的话，对于dedicated wrapper cell 和share wrapper cell之间就会存在Q-->SI 的shift clk to function clk的path，这样就会存在timing violation，如果采用了hold mux结构，对于tessent 工具来说就不会存在这样的timing path， share wrapper cell的scan se在capture 阶段为0， 只不过这个时候wrapper cell 通过loop采自己的值，就不会存在这样的问题。