解决辐射问题：退耦电容的原理及应用？（上）

便携式消费电子类产品如蓝牙音箱产品、录音笔类产品，多次出现时钟类窄带辐射与PCB布线中的电源走线强相关，甚至出现传导发射测试中因时钟干扰导致测试不过的情况；这类问题就涉及到了电源去耦的问题，结合实际整改经验和理论分析，工程师总结了去耦电容的相关原理及应用注意事项，现分享如下：

整改实例

如图1所示，某蓝牙音响产品的RE测试中，在高频段400MHz ~ 900MHz存在一系列窄带干扰，部分频点还超标了(813MHz超标0.77dB)：

图1 某音响产品RE测试超标数据

经过定位，此系列窄带干扰来自主芯片的时钟；同时定位过程中发现：主芯片的供电是主电源通过一根总长约10cm的走线提供（如图2中黄色虚线示意），且芯片的 Vcc引脚并未就近加相关的去耦措施；所以时钟干扰信号有可能耦合到芯片的电源网络、并通过长走线及外部线缆向外辐射。

图2 整改措施

如图2，最终的整改措施包括：

⑴ 主芯片Vcc引脚就近增加0.1uF去耦电容

⑵ 芯片时钟网络串入滤波器（BTREF1005A015R221，如图3）

⑶ 电源长走线每隔1000mil左右对地增加一颗0.1uF去耦电容

图3 滤波器BTREF1005A015R221的原理图和阻抗曲线

（BTREF1005A015R221这类LRC滤波器属自研产品，对高频干扰尤其是窄带类干扰有很好的滤波效果，在多领域产品中广泛应用。）

如图4，经过整改，高频段的窄带干扰明显被抑制，整体余量5.5dB+；原超标的频点813MHz直接被滤除，相当于从原来的47.7dBuV/m被削减到30dBuV/m以下（降低17.7dB+），根据上一期的文章“一文读懂EMC“中的dB定义可知，此频点的辐射强度被降低近8倍。

图4 整改后RE测试数据

以上就是小编给您们介绍的解决辐射问题：退耦电容的原理及应用的内容，希望大家看后有所帮助！