EFT测试78L05损坏分析及解决方案

I.问题现象

CQC样机送检时发现，经过EFT 4KV 测试后，发现RS485通讯中断，经检查是78L05 芯片损坏了，断电无法恢复。

II.问题分析

本次测试的原理图及损坏器件位置如下：红色标记AU1为损坏的稳压管位置。


故障复现：
测试方法：EFT共模测试，测试等级4KV，LN同时注入干扰。
该现象第一次发现，经更换测试，批次BC610的78L05，做了6PCS 5次以上均正常，未发现损坏现象。记录如下：

初步结论1：BC910及BC922批次比较容易损坏。其他批次则未出现异常。
针对922批次再测试10PCS，结果如下：实验3次损坏概率70%。

经追溯，该器件为ST原厂供货。
水平展开测试其他产品的试验结果：
仪表型号 序列号 第一次 第二次 第三次 第四次 电源芯片 通讯芯片
130s 190500454 √ √ √ BC802 RD485NE
190500397 √ √ √ BC802 RD485NE
190500386 √ √ √ BC802 RD485NE
190500406 √ √ √ BC802 RD485NE
190500396 √ √ √ BC802 RD485NE
190500415 √ √ √ BC802 RD485NE
190500422 √ √ √ BC802 RD485NE
190500424 √ √ √ BC802 RD485NE
190500407 √ √ √ BC802 RD485NE
190500451 √ √ √ BC802 RD485NE

130V1.20 190600177 √ √ √ BC802 6LB184
190600175 √ √ √ BC802 6LB184
190500320 √ √ √ BC802 6LB184
190500333 √ √ √ BC802 6LB184
190500331 √ √ √ BC802 6LB184
190500322 √ √ √ BC802 6LB184
190500326 √ √ BC802 6LB184

230v1.20 190500130 √ √ √ BC802 6LB184
190500152 √ √ √ BC802 6LB184
190702767 √ √ √ BC802 6LB184

220GS 190800095 √ √ √ BC910 胶太厚看不清
190302456 √ √ √ BC806 RD485NE
190800126 √ √ √ BC910 RD485NE
190800190 √ √ √ BC910 RD485NE
190600298 √ √ √ BC806 RD485NE
190800120 √ √ √ BC910 RD485NE
190800268 √ √ √ BC910 RD485NE
190201478 √ √ √ BC806 RD485NE
190302459 √ √ √ BC806 RD485NE
190800196 √ √ √ BC910 RD485NE

根据测试结果， 其他产品工作都正常，未发现不良。再次验证240GSV1.30 结果如下：

以上为8.16日测试结果。结论还是BC922批次容易损坏。
坏片分析：对比损坏的样品跟正常样品的电气特性：
坏片在线测试：输入正常
无输出

坏片输出阻抗

由上表得知： 坏片跟好片阻抗测试无差异
不同批次的输出阻抗表现不一致，且芯片损坏情况未在输入阻抗中表现出来，需要厂家进一步分析确定损坏原因。

无极性485发热问题
本问题可以复现，更换65LBC184测试均未发现问题。优化措施如下：


测试结果如下：对485发热效果有明显改善。

再无磁珠作用下，910批次共3片，试验1~2次均损坏。
加磁珠后，试验4次均正常。 且对485发热现象有一定程度缓解，但未能根治。
验证485芯片发热后对总线波形影响：
常总线波形如下：

发热芯片仪表接入总线后波形如下

可以看到无极性485的极性发生了混乱，影响总线正常工作。

增加串联双磁珠及去掉GND磁珠测试，均无更好效果。

III.解决方法

1、修改PCB，按下图位置增加EFT防护器件。
2、修改BOM，485芯片BOM变更为65LBC184（该芯片 测试中未出异常）。

IV.总结和建议

本次测试中发生一个小插曲：故障无法复现

后来再次测试设备恢复正常。因此：
性能测试可能因设备状态或者外部环境差异导致结果出现本质差异，需注意观察并根治。