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嵌入式外围接口疑难杂症
文章平均质量分 71
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这个作者很懒,什么都没留下…
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掉电存储错误及设计优化案例分析
按新设计,重新进行掉电相关测试,确保工作稳定可靠。转载 2023-08-09 17:52:58 · 94 阅读 · 0 评论 -
外网测试telnet&SSH漏洞案例分析
有代码优化时一并修改,以关闭外网漏洞。转载 2023-08-09 17:48:22 · 293 阅读 · 0 评论 -
RN8215芯片 32768Hz晶体停振案例分析
对于无外部起振电路的晶振电路,PCB布局布线时需注意对称布线,走线距离短,且晶振下方不能有走线。对于无外部起振电路的CPU,需特别注意系统时钟的切换方式。对于电池供电的系统,需对硬件电路中的掉电检测进行功耗确定,合理处理电池切换的方式及掉电处理函数。转载 2023-08-09 17:46:01 · 187 阅读 · 0 评论 -
M-BUS短路保护方案设计
对外接口的短路防护,异常情况下不影响设备其它工作的运行。能极大的增强系统的健壮性。转载 2023-08-09 17:33:56 · 215 阅读 · 0 评论 -
高低温通讯丢帧率高问题分析
再使用模拟光耦时,需要注意传输比及温度影响。新的磁隔离芯片,可有效规避传输比及温度影响问题, 建议使用。转载 2023-08-09 17:30:06 · 169 阅读 · 0 评论 -
Mbus总线低温丢包问题分析及解决
用到三极管,光耦等器件时, 需要充分考虑温度对放大倍数及传输比的影响,避免再宽温下不能正常工作。转载 2023-08-09 17:27:35 · 108 阅读 · 0 评论 -
EFT测试78L05损坏分析及解决方案
本次测试中发生一个小插曲:故障无法复现后来再次测试设备恢复正常。因此:性能测试可能因设备状态或者外部环境差异导致结果出现本质差异,需注意观察并根治。转载 2023-08-09 17:12:41 · 542 阅读 · 0 评论 -
EEPROM FRAM 共I2C总线异常分析
此类器件特殊功能特性差异, 再遇到是需加强记忆, CSDN记录是个很好的方式, 也可以应用前跟厂家咨询。转载 2023-08-09 17:08:43 · 99 阅读 · 0 评论 -
ETH0 GW 设置 无效分析
双网口进行参数设置时,需深入了解双网口的参数设置要求。转载 2023-08-09 16:55:24 · 90 阅读 · 0 评论 -
开关电源芯片LM2954L出现批次差异的原因分析
电源量产后,电路工作状态的改变属于重大变更,电源供方必须严格控制采购器件的性能并有可靠的检测方式保证。建议中正电子增加关键元器件以及半成品相关检测要求,通过过程管控避免同类现象再次发生。转载 2023-08-09 16:48:39 · 76 阅读 · 0 评论 -
Mbus总线低温丢包问题分析及解决
用到三极管,光耦等器件时, 需要充分考虑温度对放大倍数及传输比的影响,避免再宽温下不能正常工作。转载 2023-08-09 16:32:24 · 145 阅读 · 0 评论 -
继电器驱动设计方案及问题分析
设计控制电路时应根据规格书要求,并适当留有余量,保证控制电路的可靠动作。涉及到需要电容驱动的电路,需计算电容容量。硬件测试(联调、自测、验证测试等)过程中,需测试驱动相关波形及参数。转载 2023-08-09 16:12:47 · 327 阅读 · 0 评论