单片机通过运放检测电流方法

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单片机通过运放检测电流方法

1、低端运放电流检测方法:

低端检测电流方法

分析下原理:

运用运放的虚短特性,既得到了:

V+ = V-;

运用运放的虚断特性,既输入端和输出端没有电流流过。所以R3和R6流过电流相等。

(VOUT-V-)/R3 = V-/R6;

由上面两个式子即可得到

VOUT = V+ * (R3 + R6)/R6;

而又有:

V+ = I * R8;

所以有:

I =V+ / R8 = VOUT * R6/(R3 + R6)/R8;

电流就这样转换出来了,调整好几个电阻的阻值,Vout 用单片机的ADC采样即可。

2、高端电流检测电路:

高端电流检测
这个电路要检测电流最终的目的就是要得到图上VOUT和V1、V2的关系。

先来分析下输入端,虚断可知:

V+/R7 = (V2-V+)/R5;

虚短得到:

V+=V-;

输入负极的一条路电流是相等的:

(V–VOUT)/R1 = (V1-V-)/R2;

通常在使用该电路的时候有R1 = R7、R2 = R5。

综合上式有:

VOUT = (V2-V1)*R1/R2;

V2-V1 = I*R4;

所以

I = VOUTR2/(R1R4) ;

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