算法导论 4-6

Table of Contents

• 1 题目
• 2 分析与解答

1 题目

VLSI测试

Diogenes教授有n个被认为是完全相同的VLSI芯片，原则上他们是可以互相测试的。教授的测试装置一次可测二片，当该装置中放有两片芯片时，每一片就对另一片作测试并报告其好坏。一个好的芯片总能够报告另一片的好坏，但一个坏的芯片的结果是不可靠的。这样，每次测试的四种可能结果如下：

A芯片报告	B芯片报告	结论
B是好的	A是好的	都是好的，或都是坏的
B是好的	A是坏的	至少一片是坏的
B是坏的	A是好的	至少一片是坏的
B是坏的	A是坏的	至少一片是坏的

1. 证明若多于n/2的芯片是坏的，在这种成对测试方式下，使用任何策略都不能确定哪个芯 片是好的。假设坏的芯片可以联合起来欺骗教授。
2. 假设有多于n/2的芯片是好的，可虑从n片中找出一片好芯片的问题。证明⌊ n/2 ⌋对测试就足以使问题的规模降至近原来的一半。
3. 假设多于n/2的芯片是好的，证明好的芯片可用Θ(n)对测试找出。给出并解答表达 测试次数的递归式。

2 分析与解答

1. 坏芯片可以任意输出被测试芯片的好坏结果，当坏芯片多余n/2且有“智能”时，所有芯 片的检测结果可以是一样的。当坏芯片数大于n/2的话，那么把芯片分成三个集合：
   • k个好芯片，定义为集合G
   • k个坏芯片，定义为集合H
   • j个坏芯片，定义为集合I

   其中n=2k+j，将坏芯片可以联合起来欺骗教授定义为，坏芯片清楚自己所在的集合，清楚自 己所在的测试装置的位置，和与自己放在一起的芯片所在的集合。如此，将测试结果为“芯 片是好的”定义为1，坏的定义为0，每个芯片的测试结果是如下结果中的一种：

   	B芯片取自G	B芯片取自H	B芯片取自I
   A芯片取自G	k-1个(1, 1)	k个(x, 0)	j个(x, 0)
   A芯片取自H	k个(0, x)	k-1个(x, x)	j个(x, x)
   A芯片取自I	k个(0, x)	k个(x, x)	j-1个(x, x)

   这样只要坏芯片采用如此策略就能使所有芯片的检查结果都相同：
   • 对取自集合H的芯片
     • 在对好芯片测试时，将好芯片污蔑成坏芯片；
     • 在与H集合的芯片进行测试时，认为H集合的芯片都是好芯片（包括自身）；
     • 在与I集合的芯片进行测试时，在A位时，认为I集合的芯片是坏芯片，在B位时，提 前选择某一芯片认为自己是I集合的成员，并且认为I是好芯片。
   • 对取自集合I的芯片
     • 在B位时，都认为A都是好芯片
     • 在A位时，将好芯片污蔑成坏芯片，认为H中芯片是好芯片，认为I中其他芯片是坏芯 片。

   采用这种策略时，所有芯片的检测结果都是k-1个(1, 1)，k个(0, 0)，j个(1, 0)。

2. 当好芯片多于n/2时，先证明题中的方法能够测得芯片的好坏，用同样方法分析，将集合 I定义成好芯片，得到的测试结果为：

   	B芯片取自G	B芯片取自H	B芯片取自I
   A芯片取自G	k-1个(1, 1)	k个(x, 0)	j个(1, 1)
   A芯片取自H	k个(0, x)	k-1个(x, x)	j个(0, x)
   A芯片取自I	k个(1, 1)	k个(x, 0)	j个(1, 1)

   可见，此时，当测试结果中有大于等于k-1个(1, 1)时，就可以认为芯片是好的，如果得 到的芯片是好，那么用这个芯片就可以将剩余的芯片的好坏测出（只有测试结果为(1, 1)的芯片是好芯片）；如果得到的芯片是坏的，那么将此芯片去掉，此时好芯片的数目 仍然大于n /2，重复使用此方法就可最后测试出芯片好坏，但是这种方法的最坏情况 下是每n-1次使规模降低到n-1次。要想达到题目要求的效果需要其他算法，要求每次测 试的数目为n/2，自然想到配对测试分组，比较次数就满足了题目要求。算法描述如下：将测试芯片的集合称为V，观察测试结果表，当测试结果出现0时，两个芯片中至少有一 个是坏的，那么就可以把测试结果出现0的测试芯片从V中去掉归到集合U， 显然U中的坏的芯片数量大于等于U中元素数的一半；剩下的芯片留在集合V中，，显然集合V中好的芯片的数量大于V中元素数的一半；重复此过程，直至V中只 剩一个元素或两个元素，那么V中的芯片都是好芯片，最终可以利用好芯片测试出其他 芯片的好坏。 这里有两个细节：
   1. 考虑芯片为偶数的极端情况，上述某次递归处理的集合中，如果芯片数是奇数，那么在下一次递归开始时，可能会出现恰好有2k个好芯片和2k个坏芯片，测试 时恰好好芯片与坏芯片配对，坏芯片与坏芯片测试，那么最后结果为0，那么可以知道在奇数时这样得到的集合V规模与原规模相同，为了解决这种情况，我们对结果为(1, 1)的芯片对，只选取其中的一个留在V中，这样V中就有k+⌈ j /2⌉个好芯片和k 个坏芯片，V中的好芯片还是多余一半，那么重复使用同时1中的算法，可以得到正确 结果，并且满足题目对规模缩小的要求。
   2. 某次递归开始时，V中芯片数为奇数，按照上面的算法，两两配对测试后，会出现一个没有比较的芯片。对这个芯片需要决定是否放到V中，如果放在V中，不难想象，如果芯片是坏芯片，则V中好芯片和坏芯片可能各占一半；如果不放在V中，那么如果芯片是好的，则V中也可能出现好坏芯片各一半的情况。如何解决这个问题，考虑下次递归开始前的情况：
      • 如果下次递归开始前，不论剩下的这个芯片是好是坏，，如果V中有奇数个芯片，则好芯片数目一定大于坏芯片数目，因为如果剩下的芯片是坏芯片，相当于将此芯片放在U中，自然好芯片数目大于总数一半，如果剩下的芯片是好芯片，那么当上次递归时V是奇数时递归后V还是V并且剩下的是好芯片的话，上次递归时V中必定有k个坏芯片和k+2i+1（0<=i）个好芯片，再加j个好芯片和j个坏芯片，则一共有k+j个坏芯片和k+2i+1+j个好芯片，剩下一个1好芯片后并进行配对测试，就剩k/2个坏芯片和k/2+i个好芯片。所以如果下次递归开始前V中有奇数个芯片，则不将剩下芯片放在V中
      • 如果下次递归开始前，不算剩下的这个芯片，如果V中有偶数个芯片。也分两种情况，当剩下芯片是好芯片时，最坏的情况就是好芯片和坏芯片各占一半。当剩下的芯片是坏芯片时，那么不算这个坏芯片，上次递归开始时V中好芯片至少比坏芯片多2个，所以递归后好芯片数肯定多与坏芯片，又因为根据上面的假设，递归后V中有偶数个芯片，所以好芯片比坏芯片至少多两个，加上这个坏芯片V中的好芯片也比坏芯片多。
      综上，就是如果某次递归开始时V中的芯片数是奇数，那么当递归后如果V中剩下奇数个芯片，则这奇数个芯片构成V继续递归；如果V中剩下的芯片个数为偶数个，那么就加上没有配对测试的那个芯片组成V进行递归
3. 根据2中分析，T(n)=T(⌈ n/2 ⌉)+D(n)+C(n)，显然D(n)=Θ(⌊ n/2 ⌋)，C(n)是常数 为Θ(1)。所以T(n)=T(⌈ n/2 ⌉)+Θ(⌊ n/2 ⌋)+Θ(1) = T(⌈ n/2 ⌉)+Θ(⌊ n/2 ⌋)，忽略上下界，利用主定理，得 T(n)=Θ(f(n))=Θ(n)。