Ansys Zemax | OpticStudio 的冷反射分析宏

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本文将演示如何在具有制冷型探测器的红外系统中分析冷反射效应。冷反射图像是由光学系统表面反射形成的制冷型探测器的图像，当(近)对焦时，在图像中将产生一个黑暗的中心斑点。

分析将从使用OpticStudio的鬼像分析生成鬼像文件开始，并收集每个文件的渐晕和传输数据。

冷反射积分系数是根据用户输入的温度数据(外壳、探测器和环境)计算出来的。表面NITD贡献和总NITD结果会显示在图中并且数字NITD数据会被写入一个文本文件。

简介

冷反射效应是致冷型红外系统中一种著名的现象，它是由探测器与壳体的巨大温差引起的。

镜片镀膜的抗反射性能的不完善会导致残留的热辐射从每个镜片表面返回。热壳体的部分辐照度也到达探测器。如果镜头设计不当，就会在图像上产生可分辨的对比度差异。

对于固定的镜头位置和机架温度，这种对比度差可以通过电子非均匀性校正算法来消除。但这些参数的改变会导致冷反射图案的回归。因此，冷反射分析是制冷型红外探测器设计过程中一个非常重要的部分。

定义冷反射引起的温差

附件中的宏“Narcissus.zpl” 可以计算使用制冷型探测的红外镜头的冷反射引入等效温差(NITD)。其计算过程使用了以下公式1,2:

σij = 从表面j落在冷却型探测器表面的反射辐射的立体角与探测器像元i的冷屏蔽立体角的比值。

t0(λ) = 从第一透镜表面到探测器的平均透射率。

ti(λ) = 从探测器到我们关心的表面i的平均透射率。

以上等式机基于下假设：

• 假设探测器的归一化光谱响应在工作波长上是恒定的，所以这个参数在计算中不需要。

• 大气透射率假设为1，这意味着NITD参考的是镜头前面的环境温度。

• 假设应用在透镜表面的所有镀膜的性能在工作波长上是恒定的。即t0(λ), tj(λ) 和Rj(λ)与波长无关。

• 假设壳体和探测器温度恒定，即壳体和探测器不存在温度梯度。