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存储器构成了 VLSI 电路的很大一部分。存储系统设计的目的 是存储大量数据。[1] 存储器不包括逻辑门和触发器。因此，需要不同的故障模型和测试算法来测试存储器。MBIST 是一种自测试和修复机制，它通过一组有效的算法来测试存储器，以检测典型存储器单元内可能存在的所有故障，无论是卡住 (SAF)、转换延迟故障 (TDF) 、耦合 (CF) 或邻域模式敏感故障 (NPSF)。它使用内置时钟、地址和数据生成器以及读/写控制器逻辑来生成测试的测试模式。